中心議題：

• 連接器測試的目的
• 連接器測試程序的分類
• 連接器測試的主要項目

連接器測試的目的是確認產品的功能是否已達成設計目標以及產品是否能夠達到應用要求。測試將作為設計／產品開發階段的一個延續加以考慮。藉適當的測試選擇、排序以及嚴格的水平

，測試具有如下效果：

• 評定設計能力
• 評定產品對一般的機能失效的敏感度
• 顯示出本領域中的期望性能
• 作為失效模式分析的工具
• 避免代價過高的領域更替(避免用於更高價值領域中的產品替換)

為了實現測試的潛在作用（益處），一個意義長遠的測試計劃的設計與開發要求在整個過程中具有自始至終的細心和邏輯性，如同創作與設計該產品本身一樣。

連接器測試程序的分類
有六種基本的測試程序是常用到的：

• 設計校核測試
• 驗收測試
• 質量鑒定測試
• 長期性能（質量）鑒定
• 可靠性（強度）測試
• 工程研究
  、分析性試驗

每個程序都具有不同的目的，並且需要進行複雜程度不同的測試並應用特定的知識背景。

a. 設計校核測試
如其名稱所表示的那樣
，設計校核測試（DVT）通常是用於確認一個產品是否達到了其預期的性能標準。DVT一般不包括順序測試
，它隻測試產品是否已達到了所設定的基本功能標準。例如

，DVT包括總的電阻測試、耐用周期(或循環測試)及插拔配合力的測試。DVT是在產品開發過程中進行的，而且成為一個廣為認同的測試程序中必不可少的一部分。

b. 驗收測試
驗(yan)收(shou)測(ce)試(shi)通(tong)常(chang)在(zai)生(sheng)產(chan)加(jia)工(gong)過(guo)程(cheng)進(jin)行(xing)並(bing)成(cheng)為(wei)終(zhong)檢(jian)的(de)一(yi)部(bu)分(fen)，它(ta)包(bao)括(kuo)一(yi)個(ge)或(huo)兩(liang)個(ge)獨(du)立(li)的(de)測(ce)試(shi)，藉(ji)這(zhe)些(xie)測(ce)試(shi)以(yi)保(bao)證(zheng)產(chan)品(pin)之(zhi)特(te)定(ding)屬(shu)性(xing)達(da)到(dao)要(yao)求(qiu)的(de)性(xing)能(neng)質(zhi)量(liang)的(de)水(shui)平(ping)並(bing)符(fu)合(he)產(chan)品(pin)運(yun)行(xing)要(yao)求(qiu)。它(ta)是(shi)生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)的(de)一(yi)部(bu)份(fen)，其(qi)使(shi)用(yong)程(cheng)度(du)是(shi)由(you)最(zui)終(zhong)使(shi)用(yong)者(zhe)自(zi)己(ji)來(lai)決(jue)定(ding)的(de)
，並(bing)基(ji)於(yu)品(pin)保(bao)的(de)目(mu)的(de)也(ye)可(ke)被(bei)采(cai)購(gou)部(bu)門(men)加(jia)以(yi)利(li)用(yong)。

c. 質量鑒定
質量鑒定通常結合設計的需要進行一係列連續測試（也就是對電鍍類型及鍍層厚度，端子材料等的測試），這將使Connector/Socket有條件達到一個特定的規格要求
，而這種規格也許來自於產品、最終使用者或工業標準。測試環境的保持時間一般是較短的或適度的（大約是100或240個小時），且(qie)其(qi)包(bao)括(kuo)對(dui)類(lei)型(xing)廣(guang)泛(fan)的(de)各(ge)種(zhong)特(te)性(xing)或(huo)運(yun)行(xing)特(te)征(zheng)的(de)監(jian)測(ce)。最(zui)普(pu)通(tong)的(de)質(zhi)量(liang)鑒(jian)定(ding)測(ce)試(shi)類(lei)型(xing)是(shi)以(yi)軍(jun)用(yong)的(de)規(gui)格(ge)來(lai)要(yao)求(qiu)的(de)。這(zhe)些(xie)測(ce)試(shi)不(bu)需(xu)要(yao)測(ce)定(ding)連(lian)接(jie)器(qi)係(xi)統(tong)的(de)長(chang)期(qi)運(yun)行(xing)性(xing)能(neng)，但(dan)要(yao)確(que)定(ding)是(shi)否(fou)有(you)嚴(yan)重(zhong)的(de)問(wen)題(ti)存(cun)在(zai)。正(zheng)常(chang)的(de)質(zhi)量(liang)鑒(jian)定(ding)測(ce)試(shi)僅(jin)僅(jin)在(zai)於(yu)解(jie)決(jue)已(yi)有(you)技(ji)術(shu)和(he)已(yi)知(zhi)的(de)材(cai)料(liao)體(ti)係(xi)問(wen)題(ti)。

d. 長期性能（質量）鑒定
這種測試涉及以長期暴露方式進行、並bing且qie通tong常chang集ji中zhong於yu對dui連lian接jie器qi係xi統tong的de電dian氣qi穩wen定ding性xing評ping估gu方fang麵mian的de一yi係xi列lie連lian續xu測ce試shi，確que定ding持chi續xu暴bao露lu時shi間jian以yi確que定ding在zai該gai產chan品pin或huo體ti係xi的de預yu計ji壽shou命ming內nei，其qi是shi否fou對dui與yu時shi間jian有you關guan的de失shi效xiao機ji理li敏min感gan。（測試）持續時間長度的確定即依賴於經驗，也依賴於與本領域的測試條件／暴露時間有關的綜合因素。
　　
從使用者的角度來看

，所選擇的測試環境及（測試）持chi續xu時shi間jian隻zhi需xu要yao反fan映ying出chu所suo考kao慮lv的de特te定ding應ying用yong情qing況kuang下xia的de問wen題ti即ji可ke。而er從cong製zhi造zao商shang的de角jiao度du來lai看kan，尤you其qi對dui於yu一yi個ge普pu通tong意yi義yi的de產chan品pin而er言yan
，測ce試shi程cheng序xu必bi須xu多duo樣yang化hua以yi能neng夠gou反fan映ying出chu較jiao大da範fan圍wei的de應ying用yong條tiao件jian／要求。這類測試對於新技術
，末確定的材料體係，以及全新的設計概念作出了很正規地評估。

e. 可靠性測試
在(zai)傳(chuan)統(tong)的(de)觀(guan)念(nian)中(zhong)可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)試(shi)是(shi)複(fu)雜(za)的(de)，也(ye)很(hen)少(shao)在(zai)連(lian)接(jie)器(qi)上(shang)進(jin)行(xing)，這(zhe)種(zhong)根(gen)據(ju)操(cao)作(zuo)環(huan)境(jing)和(he)應(ying)功(gong)能(neng)需(xu)要(yao)的(de)測(ce)試(shi)在(zai)應(ying)用(yong)上(shang)是(shi)明(ming)確(que)的(de)。可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)試(shi)包(bao)括(kuo)在(zai)預(yu)計(ji)的(de)應(ying)用(yong)環(huan)境(jing)中(zhong)進(jin)行(xing)的(de)持(chi)續(xu)一(yi)定(ding)時(shi)間(jian)的(de)耐(nai)久(jiu)性(xing)測(ce)試(shi)，以(yi)及(ji)大(da)尺(chi)寸(cun)樣(yang)品(pin)的(de)大(da)量(liang)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)點(dian)，而(er)這(zhe)需(xu)要(yao)對(dui)采(cai)集(ji)的(de)數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)深(shen)入(ru)地(di)統(tong)計(ji)學(xue)上(shang)的(de)處(chu)理(li)。Mroczkowski and Maynard對這方麵進行了更詳細的闡述。
隻(zhi)有(you)在(zai)考(kao)慮(lv)到(dao)批(pi)量(liang)和(he)應(ying)用(yong)的(de)長(chang)久(jiu)性(xing)時(shi)，可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)試(shi)在(zai)經(jing)濟(ji)上(shang)才(cai)是(shi)可(ke)行(xing)的(de)。確(que)定(ding)了(le)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)僅(jin)能(neng)應(ying)用(yong)於(yu)最(zui)初(chu)流(liu)程(cheng)中(zhong)的(de)相(xiang)關(guan)的(de)設(she)計(ji)特(te)征(zheng)及(ji)生(sheng)產(chan)指(zhi)數(shu)上(shang)。在(zai)確(que)定(ding)了(le)一(yi)個(ge)產(chan)品(pin)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)級(ji)數(shu)（或程度）後設計／材料的變化會使可靠性評估毫無效果。在本章中將不對這類測試作詳細的討論。

f. 工程研究、分析性試驗
這項試驗包括工藝試驗和設計結構更改的研究性試驗兩個主要方麵。其目的和任務是：對批生產的產品所發生的質量問題進行分析研究
；擬定新的設計結構，改進現有的設計結構；確定材料代用或采用新工藝、新技術的可能性
；考核產品能否滿足技術條件之外的特殊要求。

主要測試項目
以上所述各種類型的連接器測試，可分別由下列各種測試單元項目來組成。

• 電氣性能測試
• 環境性能測試
• 機械性能測試

a. 電氣性能測試
主要測試項目和介紹如下：
耐壓試驗：目的是為了驗證電連接器在額定工作電壓下能否安全工作
，並驗證耐受由於轉換
、浪湧和其他類似現象引起的瞬時過電壓的能力。

絕緣電阻：目mu的de是shi為wei了le確que立li測ce定ding電dian連lian接jie器qi的de絕jue緣yuan材cai料liao及ji各ge密mi封feng件jian在zai能neng使shi這zhe些xie元yuan件jian表biao麵mian或huo通tong過guo其qi內nei部bu產chan生sheng漏lou電dian流liu的de直zhi流liu電dian壓ya作zuo用yong下xia，所suo呈cheng現xian的de電dian阻zu的de方fang法fa。

接觸電阻：目的是采用測量通過規定電流的接觸件兩端毫伏壓降，來測定搭接了一定長度導線的插合的電連接器的接觸件的電阻。

外殼間電連續性：目的是為了確定在摸擬的使用條件下的電連接器外殼的電連續性

導磁率：目的是為了驗證樣品的導磁率是否低於規定值。

b. 環境性能試驗
主要測試項目和介紹如下：
鹽霧：目的是為了確定電連接器在有控製的鹽液噴霧大氣中暴露後對電連接器的元件，表麵處理層，機械結構及允許的電氣參數等產生的影響.

濕熱試驗：確定電連接器在高溫及高濕環境條件下的適應性

溫度循環：為了確定電連接器暴露在模擬的貯藏
，運輸及使用過程中可能發生的最惡劣條件的極限高溫、極限低溫時
，以及暴露在極限高、低溫交替的衝擊時的耐受能力。

低氣壓浸漬：驗證一對插合電連接器組裝件的連接器至導線間和界麵密封處對摸擬的由高空迅速下降時及其後伴隨的潮氣冷凝水的密封能力。

溫度壽命：確定電連接器在規定時間內暴露在環境高溫中引起對電連接器電特性和機械特性的影響。

臭氧暴露：確定電連接器耐受一定量臭氧作用的能力。

防火：為了確定接好導線並插合好的電連接器在專用標準規定的火焰溫度下經過一定時間後耐火焰的能力。

液體浸漬：確定電連接器暴露在它的使用壽命過程中可能接觸到的特定液體中耐惡化的能力。

低溫低氣壓：了模擬低溫條件下的實際使用工作情況，並在模擬高空條件下施加試驗電壓的情況。

c. 機械性能試驗
主要測試項目和介紹如下：

衝擊：目的是為了確定電連接器及其附件在承受粗魯作業、運輸和軍事行動發生衝擊時的適用性。

振動：目的是為了確定由電連接器在壽命期間可能遇到在主要頻段或隨機振動頻段範圍內及其幅度上受振動的影響情況

電纜拉脫：目的是考核電纜或電連接器承受偶然軸向張力負荷時的能力。

恒加速度：目的是用以驗證電連接器承受預計的使用加速度環境的能力，以確保在此環境下產品結構和性能不發生失效。

撞擊：目的是為了確定電連接器耐受在分離並落到地麵上時可能遇到的撞擊的能力。本試驗僅適用於設計符合該項要求的電連接器。

機械壽命：目的是為了確定電連接器或接觸件受到插合的分離循環的影響，這種插合的分離是摸擬電連接器使用期的機械壽命。

絕緣體安裝板固定性：mudeshiweilequedingdianlianjieqizhongjueyuantidegudingjigoudeshiyingxinghejueyuanticailiaodeqiangdu
，yijiquelidianlianjieqinaishouzuhedejiechujianchahehefenlilichanshengdezhouxiangfuhedenengli。

接觸件固定性：mudeshizaidianlianjieqidejiechujianshangshijiayigezhouxiangli
，yiquedingdianlianjieqinaishoushijiechujiancongdianlianjieqijueyuantizhongdezhengqueweizhichanshengweiyidelidenenglihenaishoujiechujianbutuochudenengli。

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