中心議題：

• 電阻損壞的特點及檢測方法
• 電解電容損壞的特點及檢測方法
• 半導體器件損壞的特點檢測方法

一．電阻損壞的特點及檢測方法

1.電阻損壞的特點

電(dian)阻(zu)是(shi)電(dian)器(qi)設(she)備(bei)中(zhong)數(shu)量(liang)最(zui)多(duo)的(de)元(yuan)件(jian)，但(dan)不(bu)是(shi)損(sun)壞(huai)率(lv)最(zui)高(gao)的(de)元(yuan)件(jian)。電(dian)阻(zu)損(sun)壞(huai)以(yi)開(kai)路(lu)最(zui)常(chang)見(jian)，阻(zu)值(zhi)變(bian)大(da)較(jiao)少(shao)見(jian)，阻(zu)值(zhi)變(bian)小(xiao)十(shi)分(fen)少(shao)見(jian)。常(chang)見(jian)的(de)有(you)碳(tan)膜(mo)電(dian)阻(zu)、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。前兩種電阻應用最廣，其損壞的特點一是低阻值（100Ω以下）和高阻值（100kΩ以上）的損壞率較高，中間阻值（如幾百歐到幾十千歐）的極少損壞
；ershidizuzhidianzusunhuaishiwangwangshishaojiaofahei，henrongyifaxian
，ergaozuzhidianzusunhuaishihenshaoyouhenji。xianraodianzuyibanyongzuodadianliuxianliu，zuzhibuda。yuanzhuxingxianraodianzushaohuaishiyoudehuifaheihuobiaomianbaopi
、裂(lie)紋(wen)，有(you)的(de)沒(mei)有(you)痕(hen)跡(ji)。水(shui)泥(ni)電(dian)阻(zu)是(shi)線(xian)繞(rao)電(dian)阻(zu)的(de)一(yi)種(zhong)，燒(shao)壞(huai)時(shi)可(ke)能(neng)會(hui)斷(duan)裂(lie)，否(fou)則(ze)也(ye)沒(mei)有(you)可(ke)見(jian)痕(hen)跡(ji)。保(bao)險(xian)電(dian)阻(zu)燒(shao)壞(huai)時(shi)有(you)的(de)表(biao)麵(mian)會(hui)炸(zha)掉(diao)一(yi)塊(kuai)皮(pi)

，有(you)的(de)也(ye)沒(mei)有(you)什(shen)麼(me)痕(hen)跡(ji)
，但(dan)絕(jue)不(bu)會(hui)燒(shao)焦(jiao)發(fa)黑(hei)。

1.電阻的檢測方法

1）檢查萬用表電池

方法如下：將擋位旋鈕依次置於電阻擋R×1和R×10K擋，然後將紅、黑測試筆短接。旋轉歐姆調零電位器，觀察指針是否指向零（MF47型萬用表如R×1擋
，指針不能校零
，則更換萬用表的1.5V電池。如R×10擋
，指針不能校零
，更換9V電池。）

2）選擇適當倍率擋

celiangmouyidianzuqidezuzhishi，yaoyijudianzuqidezuzhizhengquexuanzebeilvdang，anwanyongbiaoshiyongfangfaguiding，wanyongbiaozhizhenyingzaiquankedudezhongxinbufendushucaijiaozhunque。celiangshidianzuqidezuzhishiwanyongbiaoshangkedudeshuzhiyubeilvdechengji。ruceliangyidianzuqi，suoxuanbeilvweiR×1
，刻度數值為9.4，該電阻器電阻值為R=9.4×1=9.4。

3）電阻擋調零

在測量電阻之前必須進行電阻擋調零。其方法如檢查電池方法一樣（短接紅黑測試筆），在測量電阻時
，每更換一次倍率擋後，都必須重新調零。

2．測量前的準備工作

將兩表筆（不分正負）fenbieyudianzudeliangduanyinjiaoxiangjiejikecechushijidianzuzhi。weiletigaoceliangjingdu
，genjubeicedianzubiaochengzhidedaxiaolaixuanzeliangcheng。youyuoumudangkedudefeixianxingguanxi，tadezhongjianyiduanfendujiaoweijingxi，yinciyingshizhizhenzhishizhijinkenengluodaokedudezhongduanweizhi，jiquankeduqishide20%—80%弧度範圍內，以使測量更準確。根據電阻誤差等級不同。讀數與標稱阻值之間分別允許有±5%、±10%或±20%的誤差。如不相符，超出誤差範圍，則說明該電阻器變值了。

注意事項： 測試時，特別是在測幾十KΩ以上阻值的電阻時
，手不要觸及表筆和電阻的導電部分；被檢測的電阻人電路板中焊下來，至少要焊開一個引腳
，以免電路中的其他元件對測試產生影響，造成測量誤差

；色環電阻的阻值雖然能以色環標誌來確定，但在使用時最好還是用萬用表測試下其實際阻值。

根據以上特點，在檢查電阻時可有所側重，快速找出損壞的電阻。

二．電解電容損壞的特點及檢測方法

1.電解電容的損壞特點

電解電容在電器設備中的用量很大，故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現：一是完全失去容量或容量變小；二是輕微或嚴重漏電；三是失去容量或容量變小兼有漏電。查找損壞的電解電容方法有：

（1）看：有的電容損壞時會漏液，電容下麵的電路板表麵甚至電容外表都會有一層油漬
，這種電容絕對不能再用；有的電容損壞後會鼓起
，這種電容也不能繼續使用；
（2）摸：開機後有些漏電嚴重的電解電容會發熱
，用手指觸摸時甚至會燙手，這種電容必須更換
；
（3）電(dian)解(jie)電(dian)容(rong)內(nei)部(bu)有(you)電(dian)解(jie)液(ye)，長(chang)時(shi)間(jian)烘(hong)烤(kao)會(hui)使(shi)電(dian)解(jie)液(ye)變(bian)幹(gan)
，導(dao)致(zhi)電(dian)容(rong)量(liang)減(jian)小(xiao)，所(suo)以(yi)要(yao)重(zhong)點(dian)檢(jian)查(zha)散(san)熱(re)片(pian)及(ji)大(da)功(gong)率(lv)元(yuan)器(qi)件(jian)附(fu)近(jin)的(de)電(dian)容(rong)

，離(li)其(qi)越(yue)近(jin)
，損(sun)壞(huai)的(de)可(ke)能(neng)性(xing)就(jiu)越(yue)大(da)。
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2.電解電容的檢測方法

因為電解電容的容量比一般固定電容大得多，所以，測量時
，應針對不同容量選用合適的量程。根據經驗，一般情況下，470nF­—10µF間的電容，可用R×1k擋測量
；10µF—300µF的電容可用R×100擋測量；300 µF以上的電容可用R×1或R×10擋測量。 zaijiancedianjiedianrongqishi
，yaoxianduidianrongqifangdian，tebieshiduiyudarongliangdedianjiedianrongqi，keyizhijieduanlulianggeyinjiaojinxingfangdian。ranhouwanyongbiaohongbiaobijiefuji
，heibiaobijiezhengji，zaigangjiechudeshunjian
，wanyongbiaozhizhenjixiangyoupianzhuanjiaodapiandu(對於同一電阻擋，容量越大，擺幅越大)，jiezhezhujianxiangzuohuizhuan
，zhidaotingzaimouyiweizhi。cishidezuzhibianshidianjiedianrongdezhengxiangloudianzu，cizhilvedayufanxiangloudianzu。shijishiyongjingyanbiaoming
，dianjiedianrongdeloudianzuyibanyingzaijibaikΩ以上，否則
，將不能正常工作。在測試中，若正向
、反向均無充電的現象，即表針不動，則說明容量消失或內部斷路；如果所測阻值很小或為零，說明電容漏電大或已擊穿損壞
，不能再使用。

三.半導體器件損壞的特點

1.半導體器件損壞的特點

二
、三極管的損壞一般是PN結擊穿或開路，其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現：一是熱穩定性變差，表現為開機時正常
，工作一段時間後，發生軟擊穿
；另一種是PN結的特性變差。

2．半導體器件的檢測方法

用萬用表R×1k測，各PN結均正常，但上機後不能正常工作，如果用R×10或R×1低量程檔測，就會發現其PN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量，較準確的方法是：將萬用表置R×10或R×1檔（一般用R×10檔
，不明顯時再用R×1檔）在路測二、三極管的PN結正、反向電阻

，如果正向電阻不太大（相對正常值）
，反向電阻足夠大（相對正向值），表明該PN結正常，反之就值得懷疑

，需焊下後再測。這是因為一般電路的二
、三極管外圍電阻大多在幾百


、幾千歐以上
，用萬用表低阻值檔在路測量，可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。

四.集成電路損壞的特點

集成電路內部結構複雜
，功能很多

，任何一部分損壞都無法正常工作。集成電路的損壞也有兩種：徹底損壞、熱穩定性不良。徹底損壞時，可將其拆下，與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、fanxiangdianzu，zongnengzhaodaoqizhongyizhihuojizhiyinjiaozuzhiyichang。duirewendingxingchade，keyizaishebeigongzuoshi，yongwushuijiujinglengquebeihuaiyidejichengdianlu，ruguoguzhangfashengshijiantuichihuobuzaifashengguzhang
，jikepanding。tongchangzhinenggenghuanxinjichengdianlulaipaichu。