【導讀】即(ji)使(shi)再(zai)好(hao)的(de)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)也(ye)會(hui)存(cun)在(zai)瑕(xia)疵(ci)
，從(cong)而(er)導(dao)致(zhi)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)不(bu)太(tai)理(li)想(xiang)。這(zhe)些(xie)導(dao)致(zhi)測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)的(de)缺(que)陷(xian)中(zhong)，有(you)一(yi)些(xie)是(shi)隨(sui)著(zhe)時(shi)間(jian)和(he)溫(wen)度(du)的(de)變(bian)化(hua)而(er)可(ke)重(zhong)複(fu)和(he)可(ke)預(yu)測(ce)的(de)，並(bing)且(qie)可(ke)以(yi)消(xiao)除(chu)
，而(er)另(ling)一(yi)些(xie)則(ze)是(shi)隨(sui)機(ji)的(de)，無(wu)法(fa)消(xiao)除(chu)。

誤(wu)差(cha)修(xiu)正(zheng)對(dui)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的(de)影(ying)響(xiang)非(fei)常(chang)顯(xian)著(zhu)。下(xia)圖(tu)中(zhong)，如(ru)果(guo)沒(mei)有(you)誤(wu)差(cha)修(xiu)正(zheng)，帶(dai)通(tong)濾(lv)波(bo)器(qi)的(de)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)顯(xian)示(shi)出(chu)相(xiang)當(dang)大(da)的(de)損(sun)耗(hao)和(he)紋(wen)波(bo)。經(jing)雙(shuang)端(duan)口(kou)校(xiao)準(zhun)後(hou)的(de)跡(ji)線(xian)消(xiao)除(chu)了(le)係(xi)統(tong)誤(wu)差(cha)的(de)影(ying)響(xiang)而(er)更(geng)加(jia)平(ping)滑(hua)，並(bing)且(qie)更(geng)準(zhun)確(que)的(de)表(biao)示(shi)了(le)被(bei)測(ce)件(jian) (DUT) 的實際性能。

所有測量係統
，包括那些使用網絡分析儀的係統
，都可能受到三種測量誤差的困擾：

• 係統性誤差

• 隨機誤差

• 漂移誤差

係(xi)統(tong)誤(wu)差(cha)是(shi)由(you)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)和(he)測(ce)試(shi)設(she)置(zhi)的(de)缺(que)陷(xian)引(yin)起(qi)的(de)。這(zhe)些(xie)誤(wu)差(cha)不(bu)隨(sui)時(shi)間(jian)而(er)變(bian)化(hua)，它(ta)們(men)可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)校(xiao)準(zhun)來(lai)表(biao)征(zheng)，並(bing)在(zai)測(ce)量(liang)過(guo)程(cheng)中(zhong)以(yi)數(shu)學(xue)方(fang)法(fa)來(lai)消(xiao)除(chu)。網(wang)絡(luo)測(ce)量(liang)中(zhong)遇(yu)到(dao)的(de)係(xi)統(tong)誤(wu)差(cha)與(yu)信(xin)號(hao)泄(xie)漏(lou)、信號反射和頻率響應有關。有六種類型的係統誤差：

• 與信號泄漏有關的方向性和串擾誤差

• 與反射有關的源和負載阻抗失配

• 由測試接收機內的反射和傳輸跟蹤引起的頻率響應誤差

( wanzhengdeliangduankouwuchamoxingbaokuosuoyouliugeyongyubiaoshizhengxiangdewuchahelingwaideliugefanxiangwucha，zonggongyoushiergewuchaxiang。zhejiushiweishenmejingchangjiangliangduankouxiaozhunchengweishierxiangwuchaxiuzheng)

隨機誤差隨時間而隨機變化。由於它們不可預測，因此無法通過校準將其移除。造成隨機誤差的主要因素包括儀器噪聲（例如IF本底噪聲）

、開關可重複性和連接器可重複性等。使用網絡分析儀時
，通常可以通過提高源功率、減小IF帶寬或使用多次掃描的跡線平均等方法來降低噪聲誤差。

漂(piao)移(yi)誤(wu)差(cha)是(shi)指(zhi)經(jing)過(guo)校(xiao)準(zhun)的(de)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)的(de)性(xing)能(neng)發(fa)生(sheng)的(de)變(bian)化(hua)。這(zhe)主(zhu)要(yao)是(shi)由(you)溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)引(yin)起(qi)的(de)，可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)額(e)外(wai)的(de)校(xiao)準(zhun)來(lai)消(xiao)除(chu)。漂(piao)移(yi)率(lv)決(jue)定(ding)了(le)需(xu)要(yao)額(e)外(wai)校(xiao)準(zhun)的(de)頻(pin)率(lv)。但(dan)是(shi)
，通(tong)過(guo)構(gou)建(jian)環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)穩(wen)定(ding)的(de)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)
，通(tong)常(chang)可(ke)以(yi)將(jiang)漂(piao)移(yi)誤(wu)差(cha)降(jiang)至(zhi)最(zui)低(di)。雖(sui)然(ran)可(ke)以(yi)指(zhi)定(ding)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)在(zai)0°C 至+55°C 的溫度範圍內運行
，而更可控的溫度範圍（例如 +25°C ± 5°C）可以通過最大限度地減少漂移誤差來提高測量精度，並減少或消除對定期重新校準的依賴。

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