工程師在執行雜散測量時通常需要耗費大量時間，同時還麵臨著測試時間與測試範圍之間的折中。利用新的高性能頻譜分析儀功能，Keysight PNA 可以在寬廣的頻率範圍內執行快速雜散搜索，測試吞吐量相比現有測量方法提升 500 倍。測量結果可以與當前最快
、最複雜的獨立頻譜或信號分析儀相提並論。 

　　

VNA 還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種獨一無二、業界領先的功能使分析儀隻需連接一次便可表征混頻器、轉換器、放大器、模塊或子係統
，從而縮短設計周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測量；諧波測量；互調產物測量；以及其他高階混頻產物測量。

　　

夾具中和晶圓上測量也可以從 VNA 校準和去嵌入（校正接收機響應誤差，消除電纜和夾具影響）中受益――測試精度將會明顯改善，從而實現更小的測試容限和更苛刻的器件技術指標。

　　

是德科技元器件測試事業部 PNA 市場經理 Steven Scheppelmann 表示：“在zai同tong一yi台tai儀yi器qi中zhong執zhi行xing高gao性xing能neng頻pin譜pu和he網wang絡luo測ce量liang，可ke以yi為wei您nin提ti供gong無wu與yu倫lun比bi的de洞dong察cha力li來lai了le解jie被bei測ce器qi件jian的de特te性xing。此ci創chuang新xin還hai可ke以yi取qu代dai開kai關guan矩ju陣zhen和he獨du立li的de頻pin譜pu分fen析xi儀yi，進jin而er滿man足zu日ri益yi重zhong要yao的de

、減小元器件表征測試係統體積的需求。”

　　

每一台 Keysight VNA 都充分體現了是德科技在線性和非線性器件表征方麵的專業水平。當您在研發實驗室中和生產線上執行設計和測量時，PNA 係列的卓越性能能夠為您帶來前所未有的幫助。