中心議題：

• 把讀/寫的訪問周期分離開來測量DDR2存儲設備 

解決方案：

• 力科的WaveScan波形搜索與掃描特性可以找出Data信號
• WaveScan把測量過濾中所有符合測量標準的波形累積起來形成掃描疊加的軌跡圖
• 這幅餘輝圖包含了全部捕獲的曆史波形軌跡 

測量DDR2存儲設備需要把讀/寫的訪問周期分離開來。在DDR2中通過Strobe和Data總線之間的關係可以區分出來讀和寫的操作。如圖1所示
，在讀操作時Data和Strobe的跳變是同步的，而在寫操作時Strobe的跳變則領先於Data。我們利用這種時序上的差異就可以分離出讀操作和寫操作。在圖1中，較低幅值的“讀”操作時
，Data跳變與Strobe跳變同時發生，較高幅值的“寫”操作時，Strobe信號會領先於Data信號約750ps跳變。
力科的WaveScan波形搜索與掃描特性可以通過選擇Strobe和掃描疊加（ScanOverlay）圖中滿足條件的波形之間的時序關係找出Data信號。圖2是這種功能的一個例子。WaveScan的對話框設置為搜索建立時間（Hold Time）在500ps到1ns(750 ±250 ps)之間的波形。對話框右邊的標簽用來鑒別Strobe和Data信號。注意“Hold Clock”和“Hold Data”兩個對話框標簽
，測量是對這兩個信號邊沿設定的。


圖3顯示的是一個“risetime ”參數應用在掃描疊加軌跡中的例子。掃描疊加軌跡圖僅僅包括由WaveScan隔離出來的寫操作周期。

圖4顯示的是另一項測量技術。在這裏
，被選定的一組寫周期用掃描縮放（ScanZoom）分離出來。參數門限進一步隔離出僅有12個寫周期並僅在信號正邊沿測量出兩個信號的時間差（P4）。WaveScan為您提供了一種可以測定DDR2設備的工具。

WaveScanhuizaizuobianxianshidebiaogezhongliechumeicibuhuozhongfuheceliangtiaojiandesuoyouboxingtezheng。chumoliebiaoshihuizidongdeduibeixuanzedetezhengfangdaxianshi。zhegelizizhongxianshideshiyizu“寫”操作狀態的縮放。每個符合測量標準的操作就像顯示出來的那樣用一個紅色方框描繪出輪廓。

WaveScan把測量過濾中所有符合測量標準的波形累積起來形成掃描疊加的軌跡圖（圖2中間的軌跡）。zhefuyuhuitubaohanlequanbubuhuodelishiboxingguiji。womenxianzaijiukeyiduibeixuanzechulaidezhenggeboxingzuzaisaomiaodiejiaguijitushangyingyongceliangcanshujinxingceliang。niyekeyizaibeixuanzeboxingdesuofangguijishangyingyongceliangcanshujinxingceliang。