EMI近場輻射特性：新一代串行解串器例子

這zhe是shi同tong一yi家jia半ban導dao體ti供gong應ying商shang的de第di二er個ge例li子zi，該gai公gong司si開kai發fa了le一yi個ge通tong過guo串chuan行xing解jie串chuan器qi進jin行xing點dian到dao點dian傳chuan輸shu的de第di二er代dai芯xin片pian組zu解jie決jue方fang案an。在zai第di三san代dai芯xin片pian組zu中zhong，設she計ji團tuan隊dui采cai用yong了le一yi種zhong不bu同tong的de技ji術shu並bing升sheng級ji了le傳chuan輸shu能neng力li。他ta們men將jiang雙shuang向xiang控kong製zhi通tong道dao一yi起qi嵌qian入ru高gao速su串chuan行xing鏈lian路lu中zhong，從cong而er實shi現xian了le雙shuang向xiang傳chuan輸shu（全雙工）。

為了量化比較半雙工解串器與新一代全雙工設計的輻射特性，設計團隊再次使用了內部的EMI極近場掃描儀。他們將原來的半雙工板放在掃描儀上
，進行基線測量。對待測器件加電後
，他們在PC上激活了掃描儀。（參見圖4）

圖4：半雙工和全雙工串行解串器器件的EMI掃描的測試環境

采(cai)用(yong)同(tong)樣(yang)的(de)測(ce)試(shi)設(she)置(zhi)，設(she)計(ji)團(tuan)隊(dui)用(yong)新(xin)一(yi)代(dai)全(quan)雙(shuang)工(gong)芯(xin)片(pian)組(zu)板(ban)替(ti)代(dai)了(le)基(ji)線(xian)板(ban)，同(tong)時(shi)也(ye)針(zhen)對(dui)每(mei)一(yi)條(tiao)特(te)性(xing)保(bao)持(chi)了(le)同(tong)樣(yang)的(de)規(gui)格(ge)。如(ru)上(shang)文(wen)所(suo)述(shu)，需(xu)注(zhu)意(yi)的(de)是(shi)，空(kong)間(jian)掃(sao)描(miao)疊(die)加(jia)在(zai)每(mei)次(ci)生(sheng)成(cheng)的(de)Gerber設計文件上
，以幫助工程師可以確定任何存在的輻射源。

基線（半雙工）係統的空間和頻譜特性如圖5所示。圖6展示了全雙工模式下的輻射掃描結果。

圖5：基線掃描結果：半雙工模式下的串行解串器
 

圖6：輻射特性：全雙工模式下的串行解串器

設she計ji團tuan隊dui對dui空kong間jian掃sao描miao結jie果guo和he頻pin譜pu掃sao描miao結jie果guo進jin行xing了le仔zai細xi的de對dui比bi。很hen多duo人ren可ke能neng認ren為wei輻fu射she特te性xing會hui由you於yu擴kuo展zhan的de雙shuang向xiang傳chuan輸shu功gong能neng而er呈cheng現xian出chu更geng高gao的de電dian磁ci輸shu出chu。而er實shi際ji上shang
，與yu基ji線xian相xiang比bi，全quan雙shuang工gong模mo式shi下xia沒mei有you出chu現xian尖jian峰feng信xin號hao並bing且qie峰feng值zhi輻fu射she基ji本ben相xiang似si，甚shen至zhi其qiEMI特性還略有改進（空間掃描結果呈現更深的藍色）。測試結果證明全雙工模式的新芯片組未出現明顯的變化（見圖3），設計團隊在沒有采取任何額外緩解措施的情況下實現了全雙工功能。

zhexieceshishiliyongzhejiabandaotigongsideneibujijinchangsaomiaoxitongjinxingde。zaiduanduandejifenzhongnei，jiuhuodeleshangwensuoshidejieguo。yinweifushetexingjieguoqingchudezhanshileqiyouyuedexingneng，shejiwuxucaiqurenheewaidehuanjiecuoshi。

xiangbieryan，yaozaidisanfangceshixiangzhongceshixinsheji，jiuyaoqiugongchengshiqianwangchangwaiceshichangsuo，binghuihaofeidabantiandeshijian。shiyongceshixiangwangwangxuyaotiqianjizhouanpai，zhehuigeikaifaguochengdailaijidadeyanwu。

極近場掃描解決方案不會替代在測試箱中測試設計的需求。不過
，這種儀器可以在簡便的桌麵係統中實現快速的前後一致性測試功能。

與在測試箱中進行的遠場測量相比，極近場EMI特性可以提供實時反饋。此外，這些測量結果與在測試箱中測得的遠場測量結果具有很高的相關性。因此

，諸如EMxpert等(deng)極(ji)近(jin)場(chang)儀(yi)器(qi)可(ke)以(yi)減(jian)少(shao)在(zai)測(ce)試(shi)箱(xiang)中(zhong)進(jin)行(xing)類(lei)似(si)測(ce)試(shi)的(de)數(shu)量(liang)。總(zong)之(zhi)，這(zhe)可(ke)以(yi)幫(bang)助(zhu)設(she)計(ji)團(tuan)隊(dui)加(jia)快(kuai)測(ce)試(shi)進(jin)程(cheng)
，更(geng)快(kuai)地(di)得(de)到(dao)測(ce)試(shi)箱(xiang)測(ce)試(shi)的(de)一(yi)致(zhi)性(xing)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)。

qichegongchengshibuduanmianlinzhejiangdidianciganraohequebaosuoyouqichedianzixitongdediancijianrongdetiaozhan。ruguoyinrulexinqijiandanmeiyoujinxingchongfendeceshi，zhexiegongzuojiuhuiyuelaiyuekunnan。danggongyingshangnenggouyoulizhengmingxingongnengkeyixiangshangwendelianggelizisuoshiyiyangjuyoujiangdiEMI的效果時，就能引起客戶極大的興趣。

在上文的兩個例子中，供應商提供的結果顯示采用了SSCG功能可以降低EMI，同時在新一代串行解串器例子中其輻射特性則沒有變化。因此，極近場EM掃描可以縮短每個產品的設計周期
，無需采取任何額外措施並為汽車廠商降低成本。

對於供應商而言，極近場EMI掃描技術可以實現極具說服力的頻譜掃描
，並且可以直觀的把空間掃描結果疊加在Gerber設計文件上。這些功能可以幫助設計工程師記錄和測量其產品新功能組的EMItexing。shejigongchengshijierkeyizaicaiqulexindehuanjiecuoshihuozheqitashejibiangenghoukuaisudejinxingzhongxinceshi。yinci，gongyingshangshejituanduiyesuoduanlechanpinshangshishijian，erjijushuofulidesaomiaojieguokeyishifangandedaoqichechangshanggengkuaidecaina。