BCI大電流注入測試

 

 

電子產品有許多不同的電磁敏感度測試
，以下是大電流注入(BulkCurrentInjection)測試的示例。關於大電流注入和磁化率測試的其他規範可能會完全不同。利用大電流注入的最常見測試標準是MIL-STD461(軍用)，RTCA/ DO-160(航空)
，IEC61000-4-6(商業)和ISO11452-4(汽車)。

 

BCI測試使用的電流探頭類似於用於軍事傳導發射(CE)靜止的電流探頭。電流探頭充當單匝初級
，多匝次級變壓器，在被測電源線或信號線中放置低串聯阻抗，同時能夠將可用信號驅動到50ohm接收器中。電流探頭的特征在於其傳輸阻抗ZT(Dbohm)
，即標準負載的輸出電壓比(對於EMI測試
，通常為50ohm)除以流經探頭窗口區域的淨電流。

 

當(dang)注(zhu)入(ru)電(dian)流(liu)探(tan)頭(tou)圍(wei)繞(rao)電(dian)源(yuan)線(xian)或(huo)信(xin)號(hao)線(xian)放(fang)置(zhi)時(shi)，它(ta)具(ju)有(you)類(lei)似(si)的(de)芯(xin)材(cai)料(liao)，但(dan)繞(rao)組(zu)較(jiao)重(zhong)，可(ke)充(chong)當(dang)多(duo)匝(za)初(chu)級(ji)和(he)單(dan)匝(za)次(ci)級(ji)變(bian)壓(ya)器(qi)。因(yin)此(ci)
，當(dang)與(yu)被(bei)測(ce)電(dian)纜(lan)(CUT)串聯放置時，它為磁化率信號源提供(標稱)50歐姆負載，同時提供較低的磁化率信號源阻抗。注入電流探頭的特征在於其插入損耗(dB)。插入損耗描述了夾具相對於直接注入50ohm電路的效率低下。參見圖1。

 

圖1

 

簡介：大電流注入測試旨在確認RF信號在耦合到互連電纜和/或電源線上時，不會導致性能下降或與被測設備的規格發生偏差。此外，它將提供幅度/頻pin率lv故gu障zhang信xin號hao。由you於yu電dian纜lan中zhong會hui出chu現xian較jiao大da的de可ke變bian電dian路lu阻zu抗kang和he諧xie振zhen
，因yin此ci使shi用yong校xiao準zhun夾jia具ju將jiang正zheng向xiang功gong率lv建jian立li到dao注zhu入ru探tan針zhen中zhong，從cong而er在zai校xiao準zhun夾jia具ju中zhong產chan生sheng定ding義yi的de電dian流liu。實shi際ji注zhu入ru的de電dian流liu由you監jian視shi電dian流liu探tan針zhen監jian視shi。

 

電流限製在“預校準測試設置”中建立。此測試配置如圖1所示。

 

設備：為了進行大電流注入測試，可能需要以下設備。

 

●   測量接收器

●   信號發生器

●   功放

●   注入電流探頭

●   寬帶電流探頭(監控探頭)

●   雙定向耦合器

●   射頻電纜(SAC-211)

●   50歐姆衰減器

●   50歐姆負載

●   LISN

 

預校準：此測試過程包括預校準
，以建立鉗位到校準夾具上時產生規格極限所需的正向功率電平。信號源(信號發生器和放大器)通過定向耦合器向鉗位供電。鉗位器驅動電流通過100歐姆電路
，該電路由位於夾具一端的50歐姆終端和另一端的50歐姆衰減器和頻譜分析儀/接收器組成。

 

進樣探針將被夾在校準夾具中，如圖1所示。

 

校準夾具的一端將終止於50歐姆
，50瓦的RF負載，並且需要50歐姆的接收器30 dB衰減器來保護接收器或頻譜分析儀。在測試的頻率範圍內，校準夾具兩端的終端的VSWR將小於1.2：1。

 

注入探頭從信號發生器和功率放大器接收信號電平。校準夾具中注入電流的極限已針對兩個級別的電流幅度進行了預先校準：

 

可接受/拒絕的電流水平，不應引起被測設備的故障。

 

會在被測設備中引起故障而不會對其造成永久損壞的電流水平或規格水平。

 

預校準程序步驟：

 

增加到注入探頭的測試信號，直到電流的接受/拒絕水平在校準夾具中流動。

 

記錄產生電流的接受/抑製水平所需的正向功率和反向功率。

 

增加測試信號，直到達到規定的電流水平。

 

記錄產生電流規格水平所需的正向功率和反向功率。

 

在所需的頻率範圍內重複步驟1-4。校準頻率範圍可以從10 kHz擴展到400 MHz。

 

步驟1-4中的正向功率確定來自放大器的總功率
，以達到必要的電流水平。反向功率允許以下能力：1)建立注入探針的VSWR，2)正向功率-反向功率確定傳遞到連接到校準夾具的負載的淨功率。

 

測試報告應記錄步驟1-4的數據。

 

注射測試程序：

 

注意在這些測試過程中會產生高射頻電壓和電流。進行測試的人員不得與測試裝置的任何裸露金屬物品接觸。

 

在此測試配置中再次執行“預校準程序步驟”，並記錄來自寬帶電流探頭的電流。

 

在每個測試頻率上，增加信號電平，直到出現故障或直到寬帶電流探頭測量到規範的電流電平為止。記錄以下內容：

 

來自寬帶電流探頭的電流

 

正向功率注入

 

反向功率注入

 

對所有必需的頻率重複此測試。測量足夠的頻率以確保已確定所有磁化率水平。

 

在被測設備表現出敏感性的頻率下
，降低信號電平，直到敏感性消失。記錄與步驟2中相同的數據。

 

安全：設she備bei測ce試shi應ying按an規gui範fan要yao求qiu應ying用yong於yu單dan根gen電dian線xian和he整zheng條tiao電dian纜lan。將jiang準zhun備bei一yi個ge測ce試shi程cheng序xu
，以yi識shi別bie要yao測ce試shi的de每mei條tiao電dian線xian和he電dian纜lan。在zai所suo有you注zhu入ru電dian流liu的de情qing況kuang下xia，使shi用yong的de測ce試shi配pei置zhi應ying如ru圖tu2所示。寬帶電流探頭應放置在距注入探頭指定距離的位置。對於大多數規格
，此距離約為5厘米。

 

圖2

 

jiangdianliutantoujiazaiweijueyuandedaotishangshi，qinggewaixiaoxin。jianyizaizuzhuanghechaixieceshizhuangzhishiweiceshixiangmuduandian。jiangsuoyouchuanguotantoukongdedaotifangzaikongdezhongxin，yitigongewaidedianyajichuanbaohu。qingwushiweijueyuandedianliutantoulianjieqihedianlanlianjieqiyujiedicenghuoqitaxianglindaotijiechu。

 

依據ISO11452-2
、GB/T17619、ECE-R10.05
、2004-104-EC等標準要求，對汽車電子零部件係統等車載電子設備(包括電動汽車DC-DC模塊、車載充電機等)進行BCI大(da)電(dian)流(liu)注(zhu)入(ru)抗(kang)擾(rao)度(du)測(ce)試(shi)。利(li)用(yong)電(dian)流(liu)注(zhu)入(ru)探(tan)頭(tou)通(tong)過(guo)將(jiang)電(dian)流(liu)直(zhi)接(jie)感(gan)應(ying)到(dao)連(lian)接(jie)線(xian)束(shu)進(jin)行(xing)抗(kang)擾(rao)性(xing)試(shi)驗(yan)的(de)一(yi)種(zhong)方(fang)法(fa)。該(gai)注(zhu)入(ru)探(tan)頭(tou)由(you)一(yi)個(ge)耦(ou)合(he)鉗(qian)組(zu)成(cheng)，被(bei)測(ce)係(xi)統(tong)的(de)電(dian)纜(lan)從(cong)耦(ou)合(he)鉗(qian)中(zhong)穿(chuan)過(guo)，然(ran)後(hou)通(tong)過(guo)改(gai)變(bian)感(gan)應(ying)信(xin)號(hao)的(de)頻(pin)率(lv)進(jin)行(xing)抗(kang)擾(rao)性(xing)試(shi)驗(yan)。

 

BCI 測試法，被認為是汽車電子模塊敏感度測試的最重要的測試項目，也是汽車零部件企業首先建設的項目之一。

 

國際、國內
、汽車廠商標準及測試項目：

 

 

 

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