高速模數轉換器(ADC)的INL/DNL測量
發布時間:2017-06-12 責任編輯:wenwei
【導讀】盡管積分非線性和微分非線性不是高速、高gao動dong態tai性xing能neng數shu據ju轉zhuan換huan器qi最zui重zhong要yao的de參can數shu,但dan在zai高gao分fen辨bian率lv成cheng像xiang應ying用yong中zhong卻que具ju有you重zhong要yao意yi義yi。本ben文wen簡jian要yao回hui顧gu了le這zhe兩liang個ge參can數shu的de定ding義yi,並bing給gei出chu了le兩liang種zhong不bu同tong但dan常chang用yong的de測ce量liang高gao速su模mo數shu轉zhuan換huan器qi(ADC)的INL/DNL的方法。
近期,許多廠商推出了具有出色的靜態和動態特性的高性能模數轉換器(ADC)。你或許會問,“他們是如何測量這些性能的,采用什麼設備?”。下麵的討論將聚焦於有關ADC兩個重要的精度參數的測量技術:積分非線性(INL)和微分非線性(DNL)。
盡管INL和DNL對dui於yu應ying用yong在zai通tong信xin和he高gao速su數shu據ju采cai集ji係xi統tong的de高gao性xing能neng數shu據ju轉zhuan換huan器qi來lai講jiang不bu算suan是shi最zui重zhong要yao的de電dian氣qi特te性xing參can數shu,但dan它ta們men在zai高gao分fen辨bian率lv成cheng像xiang應ying用yong中zhong卻que具ju有you重zhong要yao意yi義yi。除chu非fei經jing常chang接jie觸chuADC,否則你會很容易忘記這些參數的確切定義和重要性。因此,下一節給出了這些定義的簡要回顧。
INL和DNL的定義
DNL誤差定義為實際量化台階與對應於1LSB的理想值之間的差異(見圖1a)。對於一個理想ADC,其微分非線性為DNL = 0LSB,也就是說每個模擬量化台階等於1LSB (1LSB =
其中
為滿量程電壓,N是ADC的分辨率),跳變值之間的間隔為精確的1LSB。若DNL誤差指標≤ 1LSB,就意味著傳輸函數具有保證的單調性,沒有丟碼。當一個ADC的數字量輸出隨著模擬輸入信號的增加而增加時(或保持不變),就稱其具有單調性,相應傳輸函數曲線的斜率沒有變號。DNL指標是在消除了靜態增益誤差的影響後得到的。具體定義如下:

圖1a. 要保證沒有丟碼和單調的轉移函數,ADC的DNL必須小於1LSB。
INL誤差表示實際傳輸函數背離直線的程度,以LSB或滿量程的百分比(FSR)來度量。這樣,INL誤差直接依賴於與之相比較的直線的選取。至少有兩個定義是常用的:“最佳直線INL”和“端點INL” (見圖1b):
- 最佳直線INL定義中包含了關於失調(截距)和增益(斜率)誤差的信息,以及傳輸函數的位置(在後麵討論)。它定義了一條最接近ADC實際傳輸函數的直線。沒有明確定義直線的精確位置,但這種方法卻具有最好的可重複性,能夠真正描述器件的線性特征。
- 端點INL所采用的直線經過轉換器傳輸函數的兩個端點,因而也就確定了直線的精確位置。這樣,對於一個N位ADC來講,這條直線就由其零點(全0)和其滿度(全1)點確定。
最佳直線方法通常被作為首選,因為它能產生比較好的結果。INL是在扣除了靜態失調和增益誤差後的測量結果,可用下式表示:

圖1b. 最佳直線法和端點法是定義ADC線性特性的兩種可行辦法
轉移函數
理想ADC的(de)轉(zhuan)移(yi)函(han)數(shu)是(shi)階(jie)梯(ti)狀(zhuang)的(de),其(qi)中(zhong)每(mei)一(yi)個(ge)台(tai)階(jie)對(dui)應(ying)於(yu)某(mou)個(ge)特(te)定(ding)的(de)數(shu)字(zi)輸(shu)出(chu)代(dai)碼(ma),而(er)每(mei)一(yi)次(ci)階(jie)躍(yue)代(dai)表(biao)兩(liang)個(ge)相(xiang)鄰(lin)代(dai)碼(ma)間(jian)的(de)轉(zhuan)變(bian)。必(bi)須(xu)確(que)定(ding)這(zhe)些(xie)階(jie)躍(yue)所(suo)對(dui)應(ying)的(de)輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya),以(yi)便(bian)對(dui)ADC的許多特性參數進行規範。這項任務會極為複雜,尤其是對於高速轉換器中充滿噪聲的過渡狀態,以及那些接近於最終結果、並變化緩慢的數字量。
過渡狀態沒有在圖1b中顯著標出,而是作為一種概率函數表達,更為接近實際。當慢慢增加的輸入電壓經過過渡點時,ADC將一個接一個地輸出相鄰代碼。按照定義,在過渡點對應的輸入電壓下,ADC輸出相鄰兩個代碼的幾率相等。
正確的過渡
過guo渡du電dian壓ya是shi指zhi輸shu出chu數shu碼ma在zai兩liang個ge相xiang鄰lin代dai碼ma間jian發fa生sheng跳tiao變bian時shi輸shu入ru電dian壓ya。名ming義yi模mo擬ni值zhi,對dui應ying於yu兩liang個ge相xiang鄰lin過guo渡du電dian壓ya之zhi間jian的de某mou輸shu入ru電dian壓ya所suo產chan生sheng的de數shu字zi輸shu出chu碼ma,定ding義yi為wei此ci範fan圍wei的de中zhong點dian(50%點)。如果過渡間隔的邊界已知,該50%點很容易算出。過渡點的確定可以通過測量某一個區間,然後將該區間除以其間出現過的相鄰代碼的次數後得到。
測試靜態INL和DNL的一般裝置
INL和DNL可以利用準直流的斜坡電壓或低頻正弦波作為輸入來進行測量。一個簡單的直流(斜坡)測試可能需要一個邏輯分析儀,一個高精度DAC (可選),一個可以掃描待測器件(DUT)輸入範圍的高精密直流源,和一個可連接PC或X-Y繪圖儀的控製接口。
如果設備中包含有高精度DAC (精度比待測器件高得多),邏輯分析儀能直接處理ADC的輸出數據來監測失調和增益誤差。精密信號源產生一個測試電壓供給待測器件,並使測試電壓從零刻度到滿刻度緩慢掃過ADC的輸入範圍。經由DAC重構後,從ADC輸入測試電壓中減去對應的DAC輸出電平,就產生一個小的電壓差
這個電壓可以用X-Y繪圖儀顯示出來,並且和INL、DNL誤差聯係起來。量化電平的改變反映了微分非線性,而
與零的偏移代表積分非線性。
積分型模擬伺服環
另一種辦法也可以用來測試ADC的靜態線性參數,與前麵的辦法相似但更複雜一些,這就是使用積分型模擬伺服環。這種方法通常是用於要求高精度測量、而對測量速度沒有要求的測試設備。
典型的模擬伺服環(見圖2)包含一個積分器和兩個電流源,連接於ADC輸入端。其中一個電流源向積分器注入電流,另一個則吸出電流。數值比較器連接於ADC輸出並對兩個電流源進行控製。數值比較器的另一輸入由PC控製,後者可以對N位轉換器的
個測試碼進行掃描。

圖2. 模擬積分伺服環的電路配置
如果環路反饋的極性正確的話,數值比較器就會驅使電流源“伺服”模mo擬ni輸shu入ru跟gen隨sui給gei定ding的de代dai碼ma跳tiao變bian。理li想xiang情qing況kuang下xia,這zhe將jiang在zai模mo擬ni輸shu入ru端duan產chan生sheng一yi個ge小xiao的de三san角jiao波bo。數shu值zhi比bi較jiao器qi控kong製zhi斜xie坡po信xin號hao的de方fang向xiang和he速su度du。在zai跟gen隨sui一yi次ci跳tiao變bian時shi積ji分fen器qi的de斜xie率lv必bi須xu快kuai,而er在zai采cai用yong精jing密mi數shu字zi電dian壓ya表biao(DVM)進行測量時,為了降低疊加的三角波過衝峰值,又要求積分器足夠慢。
在MAX108的INL/DNL測試中,伺服板通過兩個連接器連接到評估板(見圖3)。第一個連接器建立起MAX108的主(或副)輸出端口和數值比較器的鎖存輸入口(P)的連接。第二個連接器將伺服環(數值比較器的Q端口)和用於生成參照碼的計算機連接起來。

圖3. 借助MAX108EVKIT和模擬積分伺服環,該測試裝置可以確定MAX108的INL和DNL特性。
數值比較器的判決結果解碼後通過P > QOUTshuchuduanshuchubingsongwangjifenqidanyuan。meiyicidebijiaojieguodoudulidikongzhikaiguandeluojishuru,qudongjifendianluchanshengchumanzuxuyaodexiepodianya,gonggeidaiceqijiandelianglushuru。zhezhongfangfajuyouqiyouyuexing,danyeyouyixiebuzuzhichu:
- 為了降低噪聲,三角斜坡應該具有低的dV/dt。這有利於產生可重複的數碼,但要獲得精確測量它需要很長的積分時間。
- 正、負斜坡的斜率必須匹配方可達到50%點,並且必須對低電平三角波取平均後才可獲得所需要的直流電平。
- 在設計積分器時常常要求仔細選擇充電電容。為了盡量減小由於電容的“存儲效應”而造成的潛在誤差,應選擇具有低介質吸收的積分電容。
- 測量精度正比於積分時間而反比於建立時間。
將一個數字電壓表連接到模擬積分伺服環中,就可測出INL/DNL誤差與輸出量的關係(圖4a和圖4b)。值得注意的是,INL與輸出碼關係曲線中的拋物線形或弓形曲線表明偶次諧波占主導地位,若曲線呈“S狀”,則說明奇次諧波占主導地位。

圖4a. 該曲線給出了MAX108 ADC的典型積分非線性特性,由模擬積分伺服環測得。

圖4b. 該曲線給出了MAX108 ADC的典型微分非線性特性,由模擬積分伺服環測得。
為了消除上述方法的缺陷,可以對伺服環中的積分單元加以改進,代之以一個L位的逐次逼近寄存器(SAR) (用於捕獲待測器件的輸出碼)、一個L位DAC、以及一個簡單的平均值電路。再結合一個數值比較器,該電路就組成了一個逐次逼近型轉換器結構(見圖5和後續的“SAR轉換器”部分),其中,由數值比較器對DAC進行控製、讀取其輸出、並完成逐次逼近。同時,DAC提供一個高分辨率的直流電平給被測N位ADC的輸入。在這個實例中,采用一個16位DAC將ADC校準至1/8LSB精度,同時獲得最可信轉移曲線。

圖5. 用逐次逼近寄存器和DAC結構取代模擬伺服環中的積分器單元
當dang接jie近jin終zhong值zhi時shi,由you於yu受shou到dao噪zao聲sheng的de影ying響xiang,數shu值zhi比bi較jiao器qi會hui來lai回hui跳tiao動dong而er變bian得de不bu穩wen定ding,此ci時shi,平ping均jun值zhi電dian路lu的de優you勢shi就jiu突tu顯xian出chu來lai了le。平ping均jun值zhi電dian路lu包bao含han兩liang個ge除chu法fa計ji數shu器qi。“參考”計數器具有
個時鍾的周期,其中M是一個可編程的整數,用來控製計數周期(同時也決定了測量時間)。“數據”計數器僅在數值比較器輸出為高時遞增,其周期等於前者的一半,即
個時鍾。
參考計數器和數據計數器共同工作的效果是對高、低電平的數量進行了平均,結果被保存於一個觸發器,並進而傳送到SAR寄存器。這個過程重複16次(在本例中)後便產生了完整的輸出碼。和前麵的方法一樣,它也有優點和不足之處:
- 測試裝置的輸入電壓由數字量定義,這樣可以簡便地修改求取平均值的測式樣點。
- 逐次逼近方式提供給待測器件模擬輸入的是一個直流電平,而非斜坡電壓。
- 不足之處在於,反饋環中的DAC限製了輸入電壓的分辨率。
SAR轉換器
SAR轉換器的工作類似於舊時藥劑師的天平。一邊是未知的輸入采樣,另一邊是由SAR/DAC結構產生的首個砝碼(最高有效位,等於滿量程輸出的一半)。如果未知重量大於1/2FSR,則保留首個砝碼並再增加1/4FSR。否則,用1/4FSR砝碼代之。
將這個步驟重複N次,從MSB到LSB,SAR轉換器就可得到所需要的輸出代碼。N是SAR結構中DAC的分辨率,每個砝碼代表1個二進位。
INL和DNL的動態測試
要測定ADC的動態非線性,可以對其施加一個滿度正弦輸入,然後在其全功率輸入帶寬內測量轉換器的信噪比(SNR)。對於一個理想的N位轉換器,理論SNR (僅考慮量化噪聲,無失真)如下:
SNR (單位為dB) = N×6.02 +1.76
這個公式包含了瞬變、積分非線性和采樣時間的不確定性等效應的影響。除此之外的非線性成分可以通過測量恒頻輸入時的SNRlaihuode,bingkededaoyigesuishuruxinhaofududebianhuaguanxi。liru,shixinhaofudusaoguozhenggeshurufanwei,conglingdaomanliangchenghuozhefanzhi,dangshurufudubijinzhuanhuanqimanliangchengshi,zhuanhuanshuchujiangyuxinhaoyuanfashengjiaodapianyi。yaoquedingchanshengzhezhongpianyi,paichushizhenheshizhongbuwendingxingyinsudeyuanyin,kecaiyongpinpufenxiyifenxilianghuazaoshengyupinlvdeguanxi。
還有很多其他方法也可以用來測試各種高速和低速數據轉換器的靜態和動態INL、DNL。本文意在使讀者更好地理解典型工作特性(TOC)的產生,所使用的工具和技術很簡單,但極為巧妙和精確。
參考文獻
MAX108數據資料, Rev. 1, 5/99, Maxim Integrated.
MAX108EVKIT數據資料, Rev. 0, 6/99, Maxim Integrated.
Analog Integrated Circuit Design, D. Johns & K. Martin, John Wiley & Sons Inc., 1997.
Low-Voltage/Low-Power Integrated Circuits and Systems, Low-Voltage Mixed-Signal Circuits, E.
Sanchez-Sinencio & A. G. Andreou, IEEE Press Marketing, 1999.
Integrated Analog-to-Digital and Digital-to-Analog Converters, R. van de Plasche, Kluwer Academic Publishers, 1994.
本文來源於Maxim。
推薦閱讀:
特別推薦
- 噪聲中提取真值!瑞盟科技推出MSA2240電流檢測芯片賦能多元高端測量場景
- 10MHz高頻運行!氮矽科技發布集成驅動GaN芯片,助力電源能效再攀新高
- 失真度僅0.002%!力芯微推出超低內阻、超低失真4PST模擬開關
- 一“芯”雙電!聖邦微電子發布雙輸出電源芯片,簡化AFE與音頻設計
- 一機適配萬端:金升陽推出1200W可編程電源,賦能高端裝備製造
技術文章更多>>
- 貿澤EIT係列新一期,探索AI如何重塑日常科技與用戶體驗
- 算力爆發遇上電源革新,大聯大世平集團攜手晶豐明源線上研討會解鎖應用落地
- 創新不止,創芯不已:第六屆ICDIA創芯展8月南京盛大啟幕!
- AI時代,為什麼存儲基礎設施的可靠性決定數據中心的經濟效益
- 矽典微ONELAB開發係列:為毫米波算法開發者打造的全棧工具鏈
技術白皮書下載更多>>
- 車規與基於V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索
微波功率管
微波開關
微波連接器
微波器件
微波三極管
微波振蕩器
微電機
微調電容
微動開關
微蜂窩
位置傳感器
溫度保險絲
溫度傳感器
溫控開關
溫控可控矽
聞泰
穩壓電源
穩壓二極管
穩壓管
無焊端子
無線充電
無線監控
無源濾波器
五金工具
物聯網
顯示模塊
顯微鏡結構
線圈
線繞電位器
線繞電阻





