雙(shuang)向(xiang)可(ke)控(kong)矽(gui)是(shi)近(jin)年(nian)來(lai)出(chu)現(xian)的(de)一(yi)種(zhong)能(neng)夠(gou)取(qu)代(dai)反(fan)極(ji)性(xing)並(bing)聯(lian)可(ke)控(kong)矽(gui)的(de)開(kai)關(guan)器(qi)件(jian)，其(qi)最(zui)顯(xian)著(zhu)的(de)特(te)點(dian)就(jiu)是(shi)能(neng)夠(gou)采(cai)用(yong)一(yi)個(ge)觸(chu)發(fa)電(dian)路(lu)來(lai)進(jin)行(xing)開(kai)關(guan)，因(yin)此(ci)受(shou)到(dao)了(le)人(ren)們(men)的(de)廣(guang)泛(fan)好(hao)評(ping)。在(zai)使(shi)用(yong)雙(shuang)向(xiang)可(ke)控(kong)矽(gui)的(de)過(guo)程(cheng)中(zhong)，有(you)時(shi)需(xu)對(dui)其(qi)電(dian)極(ji)進(jin)行(xing)判(pan)斷(duan)，測(ce)量(liang)的(de)方(fang)法(fa)並(bing)不(bu)唯(wei)一(yi)，本(ben)文(wen)就(jiu)將(jiang)為(wei)大(da)家(jia)介(jie)紹(shao)一(yi)種(zhong)使(shi)用(yong)萬(wan)用(yong)表(biao)RXl來進行測量的方法

，該方法實現測量的同時還能檢查雙向可控矽的觸發能力
，一舉多得。

雙向可控（a）雙向可控矽（b）

 

 

如圖1所示
，G極與T1極靠近，距T2極較遠。因此，G—T1之間的正、反向電阻都很小。在肦Xl檔測任意兩腳之間的電阻時，隻有在G-T1之間呈現低阻
，正、反向電阻僅幾十歐
，而T2-G
、T2-T1之間的正、反向電阻均為無窮大。這表明，如果測出某腳和其他兩腳都不通，就肯定是T2極。此外，采用TO—220封裝的雙向可控矽
，T2極通常與小散熱板連通，據此亦可確定T2極。

 

 

在找出T2極後，首先假定剩下兩腳中某一腳為Tl極，另一腳為G極。

 

將黑表筆接T1極，紅表筆接T2極
，電阻為無窮大。接著用紅表筆尖把T2與G短路，給G極加上負觸發信號，電阻值應為十歐左右，參見圖1（a），證明管子已經導通，導通方向為T1向T2。再將紅表筆尖與G極脫開（但仍接T2），若電阻值保持不變，證明管子在觸發之後能維持導通狀態，見圖1（b）。

 

把紅表筆接T1極，黑表筆接T2極，然後使T2與G短路，給G極加上正觸發信號，電阻值仍為十歐左右，與G極脫開後若阻值不變，則說明管子經觸發後
，在T2向T1方(fang)向(xiang)上(shang)也(ye)能(neng)維(wei)持(chi)導(dao)通(tong)狀(zhuang)態(tai)
，因(yin)此(ci)具(ju)有(you)雙(shuang)向(xiang)觸(chu)發(fa)性(xing)質(zhi)。由(you)此(ci)證(zheng)明(ming)上(shang)述(shu)假(jia)定(ding)正(zheng)確(que)。否(fou)則(ze)是(shi)假(jia)定(ding)與(yu)實(shi)際(ji)不(bu)符(fu)
，需(xu)再(zai)作(zuo)出(chu)假(jia)定(ding)
，重(zhong)複(fu)以(yi)上(shang)測(ce)量(liang)。顯(xian)見(jian)，在(zai)識(shi)別(bie)G、T1，的過程中
，也就檢查了雙向可控矽的觸發能力。如果按哪種假定去測量，都不能使雙向可控矽觸發導通，證明管於巳損壞。對於lA的管子，亦可用RXl0檔檢測，對於3A及3A以上的管子
，應選RXl檔
，否則難以維持導通狀態。