今天寫兩個電路設計失誤，第一個是由於電流增益不夠引起的
，該電路是參考別的設計者引發的，看了之後可以了解一些知識。

 

第一個失誤的主要原因是，設計者錯誤估算了R1的大小。其設計的值太大，導致Ib太小。

這裏把等效的模型轉換成如下：

以上的模型描述了輸入和輸出的模型

，正式計算的分成兩個部分。

求解基極電流Ib

 

求解集電極電流Ic

 

求解放大比例

通過這個比例可得到三極管的狀態，如果在線性區
，則三極管的管壓降Vce是變化的，這就導致了邏輯的問題。這種錯誤就是，某種狀態識別不出來。

 

從某種角度來看，這其實是一個電平轉換的問題，隻不過用三極管隔離了一下而已。

 

反正我個人不推薦這種接法
，因為限製太大會導致三極管欠飽和
，進入線性區。如果限流太小，則在高頻脈衝浪湧衝擊下會失效。

 

現在越來越多的采用專用接口電路來處理這種電路
，不過因為可能存在直接短路到地或者電源的錯誤（ISO16750-2規定的）。因此這個問題就很棘手了，輸入部分其實都是大問題
，因為你永遠不想在信號進入的時候就是錯誤的。

原本設計的好好的電路
，由於開關的導通電阻變化，導致電路對這個參數變化起不了調節作用，因此原本有效的信號
，在MCU處理過程中完全成了無效的信號了。

開(kai)關(guan)導(dao)通(tong)電(dian)阻(zu)值(zhi)主(zhu)要(yao)取(qu)決(jue)於(yu)開(kai)關(guan)觸(chu)頭(tou)的(de)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)。接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)值(zhi)是(shi)開(kai)關(guan)觸(chu)點(dian)接(jie)觸(chu)工(gong)作(zuo)性(xing)能(neng)的(de)最(zui)基(ji)本(ben)參(can)數(shu)
，接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)的(de)大(da)小(xiao)直(zhi)接(jie)反(fan)映(ying)開(kai)關(guan)觸(chu)點(dian)接(jie)觸(chu)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)。

 

shijishangjiechudianzusuizhekaiguandelaohuahemosun
，daotongdianzushiyoubianhuade。guowaidezhengcheshangdouguidinglekaiguandezuihuaidedaotongdianzudeqingkuang，zaiguoneiyibanbuhuikaolvzhegezuzhi（一般也無法控製的太精確。）

 

需要注意的是
，現在我們看到的開關裏麵的導通電阻參數

，一般是通過測量開關導通電阻值。

 

而比較正規的做法是，需要通過老化實驗，測量導通電阻，估計觸頭的磨損程度和回路的接觸情況
，從而預測觸頭的壽命。（老化實驗）

 

因此設計的時候需要有足夠的餘量，有兩條原則。

第一條，設想你可能遇到的最壞的情況，在這個條件下去設計。

 

第二條，努力保證模塊不會進入最壞的條件模式。