判斷一個可控矽元件是否完好，工程師需要從四個方麵進行檢查，首先是判斷該元件的三個PN結(jie)應(ying)完(wan)好(hao)，其(qi)次(ci)是(shi)當(dang)陰(yin)極(ji)與(yu)陽(yang)極(ji)間(jian)電(dian)壓(ya)反(fan)向(xiang)連(lian)接(jie)時(shi)能(neng)夠(gou)阻(zu)斷(duan)不(bu)導(dao)通(tong)
，第(di)三(san)是(shi)當(dang)控(kong)製(zhi)極(ji)開(kai)路(lu)時(shi)，陽(yang)極(ji)與(yu)陰(yin)極(ji)間(jian)的(de)電(dian)壓(ya)正(zheng)向(xiang)連(lian)接(jie)時(shi)也(ye)不(bu)導(dao)通(tong)
，第(di)四(si)是(shi)給(gei)控(kong)製(zhi)極(ji)加(jia)上(shang)正(zheng)向(xiang)電(dian)流(liu)，給(gei)陰(yin)極(ji)與(yu)陽(yang)極(ji)加(jia)正(zheng)向(xiang)電(dian)壓(ya)時(shi)，可(ke)控(kong)矽(gui)應(ying)當(dang)導(dao)通(tong)，把(ba)控(kong)製(zhi)極(ji)電(dian)流(liu)去(qu)掉(diao)後(hou)仍(reng)處(chu)於(yu)導(dao)通(tong)狀(zhuang)態(tai)。滿(man)足(zu)以(yi)上(shang)四(si)個(ge)條(tiao)件(jian)的(de)可(ke)控(kong)矽(gui)元(yuan)件(jian)，才(cai)是(shi)符(fu)合(he)設(she)計(ji)使(shi)用(yong)要(yao)求(qiu)的(de)。

想要看一個可控矽元件是否符合以上要求，其實非常簡單

，隻需要用萬用表的歐姆擋測量可控矽的極間電阻，就可對前三個方麵的好壞進行判斷。具體的操作方法是：用R×1k或R×10k擋測陰極與陽極之間的正反向電阻（控製極不接電壓），cilianggezuzhijunyinghenda。dianzuzhiyueda，biaomingzhengfanxiangloudiandianliuyuxiao。ruguocededezuzhihendi，huojinyuwuqiongda，shuomingkekongguiyijingjichuanduanluhuoyijingkailu，cikekongguibunengshiyongle。

接下來需要檢測的是控製極與陰極之間的PN結是否損壞。我們可以用萬用表的R×1k或R×10k擋測陽極與控製極之間的電阻，正反向測量阻值均應幾百千歐以上

，若電阻值很小表明可控矽擊穿短路。用R×1k或R×100擋
，測控製極和陰極之間的PN結的正反向電阻在幾千歐左右，如出現正向阻值接近於零值或為無窮大，表明控製極與陰極之間的PN結已經損壞。反向阻值應很大，但不能為無窮大。正常情況是反向阻值明顯大於正向阻值。

如果想要判斷可控矽是否已經被擊穿損壞，工程師可以使用萬用表選電阻R×1擋(dang)，然(ran)後(hou)將(jiang)黑(hei)表(biao)筆(bi)接(jie)陽(yang)極(ji)，紅(hong)表(biao)筆(bi)仍(reng)接(jie)陰(yin)極(ji)，此(ci)時(shi)萬(wan)用(yong)表(biao)指(zhi)針(zhen)應(ying)不(bu)動(dong)。紅(hong)表(biao)筆(bi)接(jie)陰(yin)極(ji)不(bu)動(dong)，黑(hei)表(biao)筆(bi)在(zai)不(bu)脫(tuo)開(kai)陽(yang)極(ji)的(de)同(tong)時(shi)用(yong)表(biao)筆(bi)尖(jian)去(qu)瞬(shun)間(jian)短(duan)接(jie)控(kong)製(zhi)極(ji)
，此(ci)時(shi)萬(wan)用(yong)表(biao)電(dian)阻(zu)擋(dang)指(zhi)針(zhen)應(ying)向(xiang)右(you)偏(pian)轉(zhuan)，阻(zu)值(zhi)讀(du)數(shu)為(wei)10歐姆左右。如陽極接黑表筆
，陰極接紅表筆時，萬用表指針發生偏轉
，說明該單向可控矽已擊穿損壞。

相關閱讀：

電路設計：可控矽移相電路的設計
造成可控矽調光LED閃爍的幾點因素
高兼容性
、極簡的可控矽調光LED方案設計