天線設計不可或缺!常見手機天線測試方法盤點
發布時間:2015-01-02 責任編輯:sherryyu
【導讀】手(shou)機(ji)天(tian)線(xian)的(de)設(she)計(ji)來(lai)講(jiang),天(tian)線(xian)的(de)測(ce)試(shi)是(shi)一(yi)個(ge)非(fei)常(chang)重(zhong)要(yao)的(de)環(huan)節(jie),沒(mei)有(you)準(zhun)確(que)的(de)設(she)計(ji),天(tian)線(xian)設(she)計(ji)的(de)好(hao)與(yu)壞(huai)也(ye)有(you)沒(mei)有(you)什(shen)麼(me)來(lai)衡(heng)量(liang)了(le),所(suo)以(yi)選(xuan)擇(ze)一(yi)個(ge)很(hen)好(hao)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)對(dui)手(shou)機(ji)天(tian)線(xian)的(de)開(kai)發(fa)也(ye)是(shi)非(fei)常(chang)重(zhong)要(yao)的(de)。本(ben)文(wen)為(wei)大(da)家(jia)盤(pan)點(dian)了(le)常(chang)見(jian)的(de)手(shou)機(ji)天(tian)線(xian)測(ce)試(shi)的(de)方(fang)法(fa),供(gong)大(da)家(jia)參(can)考(kao)學(xue)習(xi)!
隨sui著zhe移yi動dong通tong信xin的de飛fei速su發fa展zhan和he應ying用yong,中zhong國guo的de手shou機ji行xing業ye也ye不bu斷duan發fa展zhan壯zhuang大da,當dang然ran中zhong國guo的de手shou機ji用yong戶hu也ye在zai迅xun猛meng增zeng長chang。而er手shou機ji的de射she頻pin器qi件jian中zhong,手shou機ji天tian線xian是shi無wu源yuan器qi件jian,手shou機ji 天線作為手機上麵唯一的一個“量身定做”的器件,它的特殊性和重要性必然要求其研發過程對天線性能的測試要求非常嚴格,這樣才能確保手機的正常使用。現在 就簡單的介紹一下手機天線的研發過程中的幾種常見的手機天線測試方法:
1、微波暗室(Anechonic chamber)
波暗室又叫無反射室、吸波暗室簡稱暗室。微波暗室由電磁屏蔽室、濾波與隔離、接地裝置、通風波導、室內配電係統、監控係統、吸波材料等部分組成。它 shiyixibocailiaozuoweichenmiandepingbifangjian,takeyixishoushedaoliugebishangdedabufendiancinengliangjiaohaodemonikongjianziyoutiaojian。anshishitianxianshejigongsidouxuyaojianzaodeceshishebei,yinweiduiyushou 機天線的測試比較精確而且比較係統,其測試指標可以用來衡量一個手機天線的性能的好與壞。主要是天線公司使用,但其造價昂貴。
2、TEM CELL測試
用TEM CELL測試天線有源指標,因為微波暗室和天線測試係統造價比較昂貴,一般要百萬以上,一般的手機設計和研發公司沒有這種設備,而用TEM CELL(也較三角錐)來代替測試。和微波暗室的測試目的一樣,TEM CELL也ye是shi一yi個ge模mo擬ni理li想xiang空kong間jian的de天tian線xian測ce試shi環huan境jing,金jin屬shu箱xiang能neng夠gou提ti供gong足zu夠gou的de屏ping蔽bi功gong能neng來lai消xiao除chu外wai部bu幹gan擾rao對dui天tian線xian的de影ying響xiang,而er內nei部bu的de吸xi波bo材cai料liao也ye能neng吸xi收shou入ru射she波bo,減jian小xiao反fan射she波bo。 TEM CELL不能對天線進行無源測試,隻能對有源指標進行測試。由於空間限製,TEM CELL的吸波材料比較薄,而對於劈狀吸波材料,是通過劈尖間的多次反射增加對入射波進行吸收,因此微波暗室裏的吸波材料都比較厚,而TEM CELL的吸波材料都不購厚,因此對入射波的吸收都不是很充分,因此會導致測試的結果不精確。
另外,TEM CELL的高度也不夠,這也是TEM CELL不能進行定量測試的一個原因。根據天線輻射的遠場測試分析,對於EGSM/DCS頻段的手機天線,被測手機與天線的距離至少大於1米;因此,我們 可以看幾乎所有的2D暗室都是遠大於這個距離。而TEM CELL比這個距離小一些,所以這也是TEM CELL相對於微波暗室來講測量不準的一個原因。
所以,TEM CELL隻(zhi)能(neng)對(dui)天(tian)線(xian)做(zuo)定(ding)性(xing)的(de)分(fen)析(xi)而(er)不(bu)能(neng)做(zuo)定(ding)量(liang)的(de)分(fen)析(xi)。在(zai)實(shi)驗(yan)室(shi)可(ke)以(yi)定(ding)性(xing)分(fen)析(xi)幾(ji)種(zhong)樣(yang)機(ji)的(de)差(cha)異(yi),比(bi)較(jiao)其(qi)性(xing)能(neng)的(de)優(you)劣(lie),但(dan)不(bu)能(neng)作(zuo)為(wei)準(zhun)確(que)的(de)標(biao)準(zhun)值(zhi)來(lai)衡(heng)量(liang)天(tian)線(xian)的(de)性(xing)能(neng), 隻能通過與其他的“金雞”(Golden sample ) 對比,大致來判斷手機天線的性能。TEM CELL一般隻找最佳方值,使測試結果對手機擺放的位置比較敏感。
另外,還有一種測試工具較屏蔽箱,有的設計公司用來對手機天線進行有源測試,這種方法很不可行。一方麵由於測試距離太近,另一方麵由於沒有足夠的吸 波bo材cai料liao,外wai部bu幹gan擾rao對dui天tian線xian的de測ce試shi影ying響xiang比bi較jiao大da,這zhe樣yang導dao致zhi測ce試shi結jie果guo對dui位wei置zhi比bi較jiao敏min感gan,稍shao微wei改gai變bian一yi下xia位wei置zhi測ce試shi結jie果guo就jiu有you比bi較jiao大da的de改gai變bian,因yin此ci這zhe種zhong測ce試shi方fang法fa對dui手shou機ji天tian線xian的de性xing 能沒有多少的參考意義。
3、用耦合測試板測試天線性能
在生產過程中為了保證產品的生產品質,往往要進行天線的耦合測試。要用到的測試裝置是:耦合測試夾具與綜合測試儀相連,手機固定在夾具上。在生產前 期(qi)根(gen)據(ju)幾(ji)隻(zhi)樣(yang)機(ji)的(de)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo),給(gei)出(chu)一(yi)個(ge)合(he)理(li)的(de)耦(ou)合(he)補(bu)償(chang)值(zhi),確(que)定(ding)一(yi)個(ge)功(gong)率(lv)標(biao)準(zhun),然(ran)後(hou)對(dui)手(shou)機(ji)的(de)最(zui)大(da)功(gong)率(lv)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi),高(gao)於(yu)這(zhe)個(ge)功(gong)率(lv)標(biao)準(zhun)表(biao)示(shi)產(chan)品(pin)符(fu)合(he)生(sheng)產(chan)要(yao)求(qiu),低(di)於(yu)這(zhe) 個要求說明天線與相關器件有問題。通過天線耦合測試可以發現以下問題:
(1)天線匹配電路虛焊和缺件等。
(2)天線周圍電子/結構件有問題。
(3)天線沒有裝配好。
(4)天線本身品質有問題。
需(xu)要(yao)指(zhi)出(chu)的(de)是(shi)天(tian)線(xian)耦(ou)合(he)測(ce)試(shi)是(shi)產(chan)品(pin)的(de)一(yi)致(zhi)性(xing)測(ce)試(shi),並(bing)不(bu)是(shi)對(dui)產(chan)品(pin)性(xing)能(neng)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)。前(qian)麵(mian)所(suo)提(ti)到(dao)的(de)天(tian)線(xian)指(zhi)標(biao)都(dou)是(shi)針(zhen)對(dui)遠(yuan)場(chang)進(jin)行(xing)的(de)測(ce)試(shi),天(tian)線(xian)耦(ou)合(he)測(ce)試(shi)是(shi)針(zhen)對(dui)近(jin)場(chang)進(jin) 行(xing)的(de)測(ce)試(shi),被(bei)測(ce)手(shou)機(ji)的(de)天(tian)線(xian)與(yu)耦(ou)合(he)夾(jia)具(ju)天(tian)線(xian)相(xiang)距(ju)非(fei)常(chang)近(jin)。近(jin)場(chang)是(shi)天(tian)線(xian)本(ben)身(shen)客(ke)觀(guan)存(cun)在(zai)的(de),一(yi)但(dan)整(zheng)個(ge)手(shou)機(ji)的(de)結(jie)構(gou)和(he)天(tian)線(xian)確(que)定(ding),近(jin)場(chang)也(ye)就(jiu)可(ke)以(yi)確(que)定(ding),因(yin)此(ci)可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo) 是(shi)否(fou)在(zai)一(yi)定(ding)範(fan)圍(wei)內(nei),判(pan)斷(duan)天(tian)線(xian)部(bu)分(fen)是(shi)否(fou)有(you)問(wen)題(ti)。天(tian)線(xian)耦(ou)合(he)測(ce)試(shi)隻(zhi)針(zhen)對(dui)天(tian)線(xian)的(de)最(zui)大(da)功(gong)率(lv)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi),不(bu)進(jin)行(xing)其(qi)他(ta)項(xiang)目(mu)的(de)測(ce)試(shi),即(ji)使(shi)測(ce)試(shi)了(le),也(ye)沒(mei)有(you)意(yi)義(yi)。
yongtianxianouheceshilairenzhengtianxiandexingneng,genjubutongshoujideceshijieguolaijinxingxingnengpanduan,zheshifeichangcuowude。muqian,wohaishipengdaohenduoguoneideshoujigongsi,shitongguoouheceshilaipanduantianxiandexingneng,congershidetianxiangongsibudebutongguojiangxiezhenpinlvtiaopian,laitongguoouheceshidebiaozhun。
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