影響電阻或電阻率測試的主要因素有：

a.環境溫濕度

一般材料的電阻值隨環境溫濕度的升高而減小。相對而言
，表麵電阻(率)對環境濕度比較敏感，而體電阻(率)則(ze)對(dui)溫(wen)度(du)較(jiao)為(wei)敏(min)感(gan)。濕(shi)度(du)增(zeng)加(jia)，表(biao)麵(mian)泄(xie)漏(lou)增(zeng)大(da)，體(ti)電(dian)導(dao)電(dian)流(liu)也(ye)會(hui)增(zeng)加(jia)。溫(wen)度(du)升(sheng)高(gao)

，載(zai)流(liu)子(zi)的(de)運(yun)動(dong)速(su)率(lv)加(jia)快(kuai)，介(jie)質(zhi)材(cai)料(liao)的(de)吸(xi)收(shou)電(dian)流(liu)和(he)電(dian)導(dao)電(dian)流(liu)會(hui)相(xiang)應(ying)增(zeng)加(jia)，據(ju)有(you)關(guan)資(zi)料(liao)報(bao)道(dao)

，一(yi)般(ban)介(jie)質(zhi)在(zai)70 C時的電阻值僅有20 C時的10%。因此，測量材料的電阻時
，必須指明試樣與環境達到平衡的溫濕度。

b.測試電壓

(電場強度)介質材料的電阻(率) 值(zhi)一(yi)般(ban)不(bu)能(neng)在(zai)很(hen)寬(kuan)的(de)電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)內(nei)保(bao)持(chi)不(bu)變(bian)，即(ji)歐(ou)姆(mu)定(ding)律(lv)對(dui)此(ci)並(bing)不(bu)適(shi)用(yong)。常(chang)溫(wen)條(tiao)件(jian)下(xia)，在(zai)較(jiao)低(di)的(de)電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)內(nei)，電(dian)導(dao)電(dian)流(liu)隨(sui)外(wai)加(jia)電(dian)壓(ya)的(de)增(zeng)加(jia)而(er)線(xian)性(xing)增(zeng)加(jia)，材(cai)料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)保(bao)持(chi)不(bu)變(bian)。超(chao)過(guo)一(yi)定(ding)電(dian)壓(ya)後(hou)，由(you)於(yu)離(li)子(zi)化(hua)運(yun)動(dong)加(jia)劇(ju)，電(dian)導(dao)電(dian)流(liu)的(de)增(zeng)加(jia)遠(yuan)比(bi)測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)增(zeng)加(jia)的(de)快(kuai)，材(cai)料(liao)呈(cheng)現(xian)的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)迅(xun)速(su)降(jiang)低(di)。由(you)此(ci)可(ke)見(jian)，外(wai)加(jia)測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)越(yue)高(gao)
，材(cai)料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)越(yue)低(di)
，以(yi)致(zhi)在(zai)不(bu)同(tong)電(dian)壓(ya)下(xia)測(ce)試(shi)得(de)到(dao)的(de)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)值(zhi)可(ke)能(neng)有(you)較(jiao)大(da)的(de)差(cha)別(bie)。值(zhi)得(de)注(zhu)意(yi)的(de)是(shi)，導(dao)致(zhi)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)值(zhi)變(bian)化(hua)的(de)決(jue)定(ding)因(yin)素(su)是(shi)測(ce)試(shi)時(shi)的(de)電(dian)場(chang)強(qiang)度(du)
，而(er)不(bu)是(shi)測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)。對(dui)相(xiang)同(tong)的(de)測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)，若(ruo)測(ce)試(shi)電(dian)極(ji)之(zhi)間(jian)的(de)距(ju)離(li)不(bu)同(tong)
，對(dui)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)也(ye)將(jiang)不(bu)同(tong)
，正(zheng)負(fu)電(dian)極(ji)之(zhi)間(jian)的(de)距(ju)離(li)越(yue)小(xiao)，測(ce)試(shi)值(zhi)也(ye)越(yue)小(xiao)。

c.測試時間

用(yong)一(yi)定(ding)的(de)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)對(dui)被(bei)測(ce)材(cai)料(liao)加(jia)壓(ya)時(shi)，被(bei)測(ce)材(cai)料(liao)上(shang)的(de)電(dian)流(liu)不(bu)是(shi)瞬(shun)時(shi)達(da)到(dao)穩(wen)定(ding)值(zhi)的(de)

，而(er)是(shi)有(you)一(yi)衰(shuai)減(jian)過(guo)程(cheng)。在(zai)加(jia)壓(ya)的(de)同(tong)時(shi)，流(liu)過(guo)較(jiao)大(da)的(de)充(chong)電(dian)電(dian)流(liu)，接(jie)著(zhe)是(shi)比(bi)較(jiao)長(chang)時(shi)間(jian)緩(huan)慢(man)減(jian)小(xiao)的(de)吸(xi)收(shou)電(dian)流(liu)
，最(zui)後(hou)達(da)到(dao)比(bi)較(jiao)平(ping)穩(wen)的(de)電(dian)導(dao)電(dian)流(liu)。被(bei)測(ce)電(dian)阻(zu)值(zhi)越(yue)高(gao)，達(da)到(dao)平(ping)衡(heng)的(de)時(shi)間(jian)則(ze)越(yue)長(chang)。因(yin)此(ci)，測(ce)量(liang)時(shi)為(wei)了(le)正(zheng)確(que)讀(du)取(qu)被(bei)測(ce)電(dian)阻(zu)值(zhi)，應(ying)在(zai)穩(wen)定(ding)後(hou)讀(du)取(qu)數(shu)值(zhi)或(huo)取(qu)加(jia)壓(ya) 1分鍾後的讀數值。另外，高絕緣材料的電阻值還與其帶電的曆史有關。為準確評價材料的靜電性能
，在對材料進行電阻(率)測試時
，應首先對其進行消電處理，並靜置一定的時間，靜置時間可取5分鍾
，然後

，再按測量程序測試。一般而言，對一種材料的測試，至少應隨機抽取3～5個試樣進行測試，以其平均值作為測試結果。

d.測試設備的泄漏

在測試中，線路中絕緣電阻不高的連線，往往會不適當地與被測試樣
、取樣電阻等並聯，對測量結果可能帶來較大的影響。為此：為減小測量誤差，應采用保護技術，在漏電流大的線路上安裝保護導體
，以基本消除雜散電流對測試結果的影響
；高電壓線由於表麵電離
，對地有一定泄漏，所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導線作為高壓輸出線並盡量縮短連線，減少尖端
，杜絕電暈放電；采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料製作測試台和支撐體
，以避免由於該類原因導致測試值偏低。

e.外界幹擾

高絕緣材料加上直流電壓後

，通過試樣的電流是很微小的，極易受到外界幹擾的影響
，造成較大的測試誤差。熱電勢、接觸電勢一般很小，可以忽略;電解電勢主要是潮濕試樣與不同金屬接觸產生的，大約隻有20mV，況(kuang)且(qie)在(zai)靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)中(zhong)均(jun)要(yao)求(qiu)相(xiang)對(dui)濕(shi)度(du)較(jiao)低(di)
，在(zai)幹(gan)燥(zao)環(huan)境(jing)中(zhong)測(ce)試(shi)時(shi)，可(ke)以(yi)消(xiao)除(chu)電(dian)解(jie)電(dian)勢(shi)。因(yin)此(ci)，外(wai)界(jie)幹(gan)擾(rao)主(zhu)要(yao)是(shi)雜(za)散(san)電(dian)流(liu)的(de)耦(ou)合(he)或(huo)靜(jing)電(dian)感(gan)應(ying)產(chan)生(sheng)的(de)電(dian)勢(shi)。在(zai)測(ce)試(shi)電(dian)流(liu)小(xiao)於(yu)10-10A或測量電阻超過1011歐姆時;被測試樣、測試電極和測試係統均應采取嚴格的屏蔽措施，消除外界幹擾帶來的影響。