中心議題：

• 改進電路設計規程提高可測試性
• 分析良好的可測試性的機械接觸條件

解決方案：

• 通過遵守規程可減少生產測試的費用
• 采用新的測試方法和采用創新性適配器解決方案

隨著微型化程度不斷提高
，元件和布線技術也取得巨大發展

，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導體之間的絕緣間距縮小到0.5mm
，這(zhe)些(xie)僅(jin)是(shi)其(qi)中(zhong)的(de)兩(liang)個(ge)例(li)子(zi)。電(dian)子(zi)元(yuan)件(jian)的(de)布(bu)線(xian)設(she)計(ji)方(fang)式(shi)，對(dui)以(yi)後(hou)製(zhi)作(zuo)流(liu)程(cheng)中(zhong)的(de)測(ce)試(shi)能(neng)否(fou)很(hen)好(hao)進(jin)行(xing)，影(ying)響(xiang)越(yue)來(lai)越(yue)大(da)。下(xia)麵(mian)介(jie)紹(shao)幾(ji)種(zhong)重(zhong)要(yao)規(gui)則(ze)及(ji)實(shi)用(yong)提(ti)示(shi)。

通過遵守一定的規程（DFT-Design for Testability，可測試的設計），可(ke)以(yi)大(da)大(da)減(jian)少(shao)生(sheng)產(chan)測(ce)試(shi)的(de)準(zhun)備(bei)和(he)實(shi)施(shi)費(fei)用(yong)。這(zhe)些(xie)規(gui)程(cheng)已(yi)經(jing)過(guo)多(duo)年(nian)發(fa)展(zhan)，當(dang)然(ran)，若(ruo)采(cai)用(yong)新(xin)的(de)生(sheng)產(chan)技(ji)術(shu)和(he)元(yuan)件(jian)技(ji)術(shu)，它(ta)們(men)也(ye)要(yao)相(xiang)應(ying)的(de)擴(kuo)展(zhan)和(he)適(shi)應(ying)。隨(sui)著(zhe)電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)結(jie)構(gou)尺(chi)寸(cun)越(yue)來(lai)越(yue)小(xiao)
，目(mu)前(qian)出(chu)現(xian)了(le)兩(liang)個(ge)特(te)別(bie)引(yin)人(ren)注(zhu)目(mu)的(de)問(wen)題(ti)：一是可接觸的電路節點越來越少；二是像在線測試（In-Circuit-Test）這(zhe)些(xie)方(fang)法(fa)的(de)應(ying)用(yong)受(shou)到(dao)限(xian)製(zhi)。為(wei)了(le)解(jie)決(jue)這(zhe)些(xie)問(wen)題(ti)，可(ke)以(yi)在(zai)電(dian)路(lu)布(bu)局(ju)上(shang)采(cai)取(qu)相(xiang)應(ying)的(de)措(cuo)施(shi)，采(cai)用(yong)新(xin)的(de)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)和(he)采(cai)用(yong)創(chuang)新(xin)性(xing)適(shi)配(pei)器(qi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。第(di)二(er)個(ge)問(wen)題(ti)的(de)解(jie)決(jue)還(hai)涉(she)及(ji)到(dao)使(shi)原(yuan)來(lai)作(zuo)為(wei)獨(du)立(li)工(gong)序(xu)使(shi)用(yong)的(de)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)承(cheng)擔(dan)附(fu)加(jia)任(ren)務(wu)。這(zhe)些(xie)任(ren)務(wu)包(bao)括(kuo)通(tong)過(guo)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)對(dui)存(cun)儲(chu)器(qi)組(zu)件(jian)進(jin)行(xing)編(bian)程(cheng)或(huo)者(zhe)實(shi)行(xing)集(ji)成(cheng)化(hua)的(de)元(yuan)器(qi)件(jian)自(zi)測(ce)試(shi)（Built-in Self Test，BIST，內建的自測試）。jiangzhexiebuzhouzhuanyidaoceshixitongzhongqu，zongqilaikan，haishichuangzaolegengduodefujiajiazhi。weileshunlidishishizhexiecuoshi，zaichanpinkeyankaifajieduan
，jiubixuyouxiangyingdekaolv。

1
、什麼是可測試性

可測試性的意義可理解為：測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種元件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是：

• 檢測產品是否符合技術規範的方法簡單化到什麼程度？
• 編製測試程序能快到什麼程度？
• 發現產品故障全麵化到什麼程度
  ？
• 接入測試點的方法簡單化到什麼程度？

weiledadaolianghaodekeceshibixukaolvjixiefangmianhedianqifangmiandeshejiguicheng。dangran，yaodadaozuijiadekeceshixing，xuyaofuchuyidingdaijia，danduizhenggegongyiliuchenglaishuo，tajuyouyixiliedehaochu，yincishichanpinnengfouchenggongshengchandezhongyaoqianti。

2、為什麼要發展測試友好技術

guoqu，ruomouyichanpinzaishangyiceshidianbunengceshi，namezhegewentijiubeijiandandituiyidaozhiyigeceshidianshangqu。ruguochanpinquexianzaishengchanceshizhongbunengfaxian
，zeciquexiandeshibieyuzhenduanyehuijiandandibeituiyidaogongnenghexitongceshizhongqu。

相(xiang)反(fan)地(di)
，今(jin)天(tian)人(ren)們(men)試(shi)圖(tu)盡(jin)可(ke)能(neng)提(ti)前(qian)發(fa)現(xian)缺(que)陷(xian)
，它(ta)的(de)好(hao)處(chu)不(bu)僅(jin)僅(jin)是(shi)成(cheng)本(ben)低(di)
，更(geng)重(zhong)要(yao)的(de)是(shi)今(jin)天(tian)的(de)產(chan)品(pin)非(fei)常(chang)複(fu)雜(za)，某(mou)些(xie)製(zhi)造(zao)缺(que)陷(xian)在(zai)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)中(zhong)可(ke)能(neng)根(gen)本(ben)檢(jian)查(zha)不(bu)出(chu)來(lai)。例(li)如(ru)某(mou)些(xie)要(yao)預(yu)先(xian)裝(zhuang)軟(ruan)件(jian)或(huo)編(bian)程(cheng)的(de)元(yuan)件(jian)
，就(jiu)存(cun)在(zai)這(zhe)樣(yang)的(de)問(wen)題(ti)。（如快閃存儲器或ISPs：In-System Programmable Devices係統內可編程器件）。這些元件的編程必須在研製開發階段就計劃好

，而測試係統也必須掌握這種編程。

ceshiyouhaodedianlushejiyaofeiyixieqian，raner，ceshikunnandedianlushejifeideqianhuigengduo。ceshibenshenshiyouchengbende，ceshichengbensuizheceshijishudezengjiaerjiada；從cong在zai線xian測ce試shi到dao功gong能neng測ce試shi以yi及ji係xi統tong測ce試shi
，測ce試shi費fei用yong越yue來lai越yue大da。如ru果guo跳tiao過guo其qi中zhong一yi項xiang測ce試shi，所suo耗hao費fei用yong甚shen至zhi會hui更geng大da。一yi般ban的de規gui則ze是shi每mei增zeng加jia一yi級ji測ce試shi費fei用yong的de增zeng加jia係xi數shu是shi10倍。通過測試友好的電路設計，可以及早發現故障
，從而使測試友好的電路設計所費的錢迅速地得到補償。

3、文件資料怎樣影響可測試性

隻(zhi)有(you)充(chong)分(fen)利(li)用(yong)元(yuan)件(jian)開(kai)發(fa)中(zhong)完(wan)整(zheng)的(de)數(shu)據(ju)資(zi)料(liao)，才(cai)有(you)可(ke)能(neng)編(bian)製(zhi)出(chu)能(neng)全(quan)麵(mian)發(fa)現(xian)故(gu)障(zhang)的(de)測(ce)試(shi)程(cheng)序(xu)。在(zai)許(xu)多(duo)情(qing)況(kuang)下(xia)，開(kai)發(fa)部(bu)門(men)和(he)測(ce)試(shi)部(bu)門(men)之(zhi)間(jian)的(de)密(mi)切(qie)合(he)作(zuo)是(shi)必(bi)要(yao)的(de)。文(wen)件(jian)資(zi)料(liao)對(dui)測(ce)試(shi)工(gong)程(cheng)師(shi)了(le)解(jie)元(yuan)件(jian)功(gong)能(neng)，製(zhi)定(ding)測(ce)試(shi)戰(zhan)略(lve)
，有(you)無(wu)可(ke)爭(zheng)議(yi)的(de)影(ying)響(xiang)。

為(wei)了(le)繞(rao)開(kai)缺(que)乏(fa)文(wen)件(jian)和(he)不(bu)甚(shen)了(le)解(jie)元(yuan)件(jian)功(gong)能(neng)所(suo)產(chan)生(sheng)的(de)問(wen)題(ti)
，測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)製(zhi)造(zao)商(shang)可(ke)以(yi)依(yi)靠(kao)軟(ruan)件(jian)工(gong)具(ju)，這(zhe)些(xie)工(gong)具(ju)按(an)照(zhao)隨(sui)機(ji)原(yuan)則(ze)自(zi)動(dong)產(chan)生(sheng)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)，或(huo)者(zhe)依(yi)靠(kao)非(fei)矢(shi)量(liang)相(xiang)比(bi)，非(fei)矢(shi)量(liang)方(fang)法(fa)隻(zhi)能(neng)算(suan)作(zuo)一(yi)種(zhong)權(quan)宜(yi)的(de)解(jie)決(jue)辦(ban)法(fa)。
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測試前的完整的文件資料包括零件表，電路設計圖數據（主要是CAD數據）以及有關務元件功能的詳細資料（如數據表）。隻有掌握了所有信息，才可能編製測試矢量，定義元件失效樣式或進行一定的預調整。

mouxiejixiefangmiandeshujuyeshizhongyaode

，lirunaxieweilejianzhazujiandehanjieshifoulianghaojidingweishifousuoxuyaodeshuju。zuihou，duiyukebianchengdeyuanjian，rukuaishancunchuqi
，PLD、FPGA等(deng)
，如(ru)果(guo)不(bu)是(shi)在(zai)最(zui)後(hou)安(an)裝(zhuang)時(shi)才(cai)編(bian)程(cheng)，是(shi)在(zai)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)上(shang)就(jiu)應(ying)編(bian)好(hao)程(cheng)序(xu)的(de)話(hua)，也(ye)必(bi)須(xu)知(zhi)道(dao)各(ge)自(zi)的(de)編(bian)程(cheng)數(shu)據(ju)。快(kuai)閃(shan)元(yuan)件(jian)的(de)編(bian)程(cheng)數(shu)據(ju)應(ying)完(wan)整(zheng)無(wu)缺(que)。如(ru)快(kuai)閃(shan)芯(xin)片(pian)含(han)16Mbit的數據，就應該可以用到16Mbit，這樣可以防止誤解和避免地址衝突。例如，如果用一個4Mbit存儲器向一個元件僅僅提供300Kbit數據
，就可能出現這種情況。當然數據應準備成流行的標準格式
，如Intel公司的Hex或Motorola公司的S記錄結構等。大多數測試係統
，隻要能夠對快閃或ISP元(yuan)件(jian)進(jin)行(xing)編(bian)程(cheng)
，是(shi)可(ke)以(yi)解(jie)讀(du)這(zhe)些(xie)格(ge)式(shi)的(de)。前(qian)麵(mian)所(suo)提(ti)到(dao)的(de)許(xu)多(duo)信(xin)息(xi)，其(qi)中(zhong)許(xu)多(duo)也(ye)是(shi)元(yuan)件(jian)製(zhi)造(zao)所(suo)必(bi)須(xu)的(de)。當(dang)然(ran)，在(zai)可(ke)製(zhi)造(zao)性(xing)和(he)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)之(zhi)間(jian)應(ying)明(ming)確(que)區(qu)別(bie)，因(yin)為(wei)這(zhe)是(shi)完(wan)全(quan)不(bu)同(tong)的(de)概(gai)念(nian)，從(cong)而(er)構(gou)成(cheng)不(bu)同(tong)的(de)前(qian)提(ti)。

4、良好的可測試性的機械接觸條件

如ru果guo不bu考kao慮lv機ji械xie方fang麵mian的de基ji本ben規gui則ze，即ji使shi在zai電dian氣qi方fang麵mian具ju有you非fei常chang良liang好hao的de可ke測ce試shi性xing的de電dian路lu
，也ye可ke能neng難nan以yi測ce試shi。許xu多duo因yin素su會hui限xian製zhi電dian氣qi的de可ke測ce試shi性xing。如ru果guo測ce試shi點dian不bu夠gou或huo太tai小xiao，探tan針zhen床chuang適shi配pei器qi就jiu難nan以yi接jie觸chu到dao電dian路lu的de每mei個ge節jie點dian。如ru果guo測ce試shi點dian位wei置zhi誤wu差cha和he尺chi寸cun誤wu差cha太tai大da，就jiu會hui產chan生sheng測ce試shi重zhong複fu性xing不bu好hao的de問wen題ti。在zai使shi用yong探tan針zhen床chuang配pei器qi時shi
，應ying留liu意yi一yi係xi列lie有you關guan套tao牢lao孔kong與yu測ce試shi點dian的de大da小xiao和he定ding位wei的de建jian議yi

5、最佳可測試性的電氣前提條件

電(dian)氣(qi)前(qian)提(ti)條(tiao)件(jian)對(dui)良(liang)好(hao)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)
，和(he)機(ji)械(xie)接(jie)觸(chu)條(tiao)件(jian)一(yi)樣(yang)重(zhong)要(yao)
，兩(liang)者(zhe)缺(que)一(yi)不(bu)可(ke)。一(yi)個(ge)門(men)電(dian)路(lu)不(bu)能(neng)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)
，原(yuan)因(yin)可(ke)能(neng)是(shi)無(wu)法(fa)通(tong)過(guo)測(ce)試(shi)點(dian)接(jie)觸(chu)到(dao)啟(qi)動(dong)輸(shu)入(ru)端(duan)，也(ye)可(ke)能(neng)是(shi)啟(qi)動(dong)輸(shu)入(ru)端(duan)處(chu)在(zai)封(feng)裝(zhuang)殼(ke)內(nei)，外(wai)部(bu)無(wu)法(fa)接(jie)觸(chu)，在(zai)原(yuan)則(ze)上(shang)這(zhe)兩(liang)情(qing)況(kuang)同(tong)樣(yang)都(dou)是(shi)不(bu)好(hao)的(de)，都(dou)使(shi)測(ce)試(shi)無(wu)法(fa)進(jin)行(xing)。在(zai)設(she)計(ji)電(dian)路(lu)時(shi)應(ying)該(gai)注(zhu)意(yi)，凡(fan)是(shi)要(yao)用(yong)在(zai)線(xian)測(ce)試(shi)法(fa)檢(jian)測(ce)的(de)元(yuan)件(jian)，都(dou)應(ying)該(gai)具(ju)備(bei)某(mou)種(zhong)機(ji)理(li)，使(shi)各(ge)個(ge)元(yuan)件(jian)能(neng)夠(gou)在(zai)電(dian)氣(qi)上(shang)絕(jue)緣(yuan)起(qi)來(lai)。這(zhe)種(zhong)機(ji)理(li)可(ke)以(yi)借(jie)助(zhu)於(yu)禁(jin)止(zhi)輸(shu)入(ru)端(duan)來(lai)實(shi)現(xian)

，它(ta)可(ke)以(yi)將(jiang)元(yuan)件(jian)的(de)輸(shu)出(chu)端(duan)控(kong)製(zhi)在(zai)靜(jing)態(tai)的(de)高(gao)歐(ou)姆(mu)狀(zhuang)態(tai)。

雖然幾乎所有的測試係統都能夠逆驅動（Backdriving）方式將某一節點的狀態帶到任意狀態，但是所涉及的節點最好還是要備有禁止輸入端，首先將此節點帶到高歐姆狀態
，然後再“平緩地”加上相應的電平。

同樣

，節拍發生器總是通過啟動引線
，門電路或插接電橋從振蕩器後麵直接斷開。啟動輸入端決不可直接與電路相連，而是通過100oumudedianzuyudianlulianjie。meigeyuanjianyingyouzijideqidong，fuweihuokongzhiyinxianjiao。bixubimianxuduoyuanjiandeqidongshuruduangongyongyigedianzuyudianluxianglian。zhetiaoguizeduiyuASIC元yuan件jian也ye適shi用yong，這zhe些xie元yuan件jian也ye應ying有you一yi個ge引yin線xian腳jiao，通tong過guo它ta
，可ke將jiang輸shu出chu端duan帶dai到dao高gao歐ou姆mu狀zhuang態tai。如ru果guo元yuan件jian在zai接jie通tong工gong作zuo電dian壓ya時shi可ke實shi行xing複fu位wei，這zhe對dui於yu由you測ce試shi器qi來lai引yin發fa複fu位wei也ye是shi非fei常chang有you幫bang助zhu的de。在zai這zhe種zhong情qing況kuang下xia
，元yuan件jian在zai測ce試shi前qian就jiu可ke以yi簡jian單dan地di置zhi於yu規gui定ding的de狀zhuang態tai。

buyongdeyuanjianyinxianjiaotongyangyeyinggaishikejiechude，yinweizaizhexiedifangweifaxiandeduanluyekenengzaochengyuanjianguzhang。ciwai，buyongdemendianluwangwangzaiyihouhuibeiliyongyushejigaijin，tamenkenenghuigaijiedaodianluzhonglai。suoyitongyangzhongyaodeshi，tamencongyikaishijiuyingjingguoceshi
，yibaozhengqigongjiankekao。