KTE V5.3:吉時利發布麵向S530的半導體測試軟件用於晶圓生產測試
發布時間:2011-09-21 來源:吉時利儀器公司
產品特性:
先進電氣測試儀器與係統的世界級領導者吉時利儀器公司發布了獲得業界好評的吉時利測試環境(KTE)半導體測試軟件的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時利迄今為止最快、最經濟有效的過程控製監控方案產品線S530參數測試係統設計的。
KTE是一款強大的測試開發和運行軟件平台,全球有數百家半導體晶圓廠都在使用吉時利前幾代的參數測試係統。現在,吉時利的S530測試係統利用這個被業界長期驗證的軟件平台在最苛刻的生產環境中實現了靈活的測試計劃開發和高速測試。現有吉時利S400和S600係列參數測試儀用戶將特別受益於S530係統上的KTE V5.3,因為可以將既有測量程序輕鬆地移植到S530,而且現有測試儀和新的S530係統可以共享同一個測試計劃。
將KTE測試開發和運行環境擴展至S530係統結合了吉時利30年的參數測試代碼開發實踐經驗和市場上最快、最先進的係統硬件優勢。S530儀器提供過程控製監控等參數測試應用要求的高速度和寬測量範圍。
吉ji時shi利li致zhi力li於yu讓rang新xin測ce試shi係xi統tong高gao度du兼jian容rong較jiao早zao的de係xi統tong支zhi持chi吉ji時shi利li參can數shu測ce試shi客ke戶hu。保bao持chi軟ruan件jian兼jian容rong性xing的de承cheng諾nuo確que保bao了le移yi植zhi路lu徑jing更geng為wei平ping滑hua並bing能neng在zai測ce試shi平ping台tai上shang加jia入ru更geng新xin、更(geng)高(gao)速(su)測(ce)試(shi)儀(yi)以(yi)保(bao)護(hu)晶(jing)圓(yuan)廠(chang)的(de)測(ce)試(shi)軟(ruan)件(jian)投(tou)資(zi)。對(dui)於(yu)吉(ji)時(shi)利(li)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)的(de)新(xin)客(ke)戶(hu),恪(ke)守(shou)係(xi)統(tong)軟(ruan)件(jian)連(lian)續(xu)性(xing)的(de)承(cheng)諾(nuo)意(yi)味(wei)著(zhe)客(ke)戶(hu)會(hui)對(dui)基(ji)於(yu)業(ye)界(jie)長(chang)期(qi)驗(yan)證(zheng)軟(ruan)件(jian)的(de)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)充(chong)滿(man)信(xin)心(xin)。
對於已經使用KTE較早版本的客戶來說,KTE V5.3加速並簡化了S530測試係統到測試平台的集成。
• 同tong一yi種zhong測ce試shi方fang法fa和he測ce試shi方fang案an適shi用yong於yu所suo有you吉ji時shi利li自zi動dong參can數shu測ce試shi係xi統tong,這zhe不bu僅jin縮suo短duan了le使shi用yong多duo個ge係xi統tong的de測ce試shi工gong程cheng師shi和he操cao作zuo人ren員yuan的de學xue習xi過guo程cheng,而er且qie在zai測ce試shi平ping台tai增zeng加jia新xin的de高gao速su係xi統tong或huo取qu代dai較jiao早zao平ping台tai時shi提ti供gong平ping滑hua的de移yi植zhi路lu徑jing以yi保bao護hu晶jing圓yuan廠chang的de測ce試shi開kai發fa投tou入ru。
• 用戶隻需重新編譯和重新生成多年來為更早的吉時利係統開發的常用用戶庫,就能繼續在S530上使用這些用戶庫。通常,隻需進行少量調試。
• KTE V5.3簡化了創建條件測試序列的新用戶訪問點(UAP)源代碼以及定製S530的係統工作流程。為早期吉時利係統開發的UAP源代碼適用於S530係統,隻需作少量調整。
• KTE的工具對吉時利所有參數測試平台都具有完全相同的功能性。
麵向S530的KTE適於在標準工業PC的Linux操作係統上運行以確保長期穩定性和易於維護性。該軟件已針對高吞吐率生產測試環境作了速度和擴展可靠性的優化。運行KTE V5.3的S530係統能實現過程控製監控、過程可靠性監控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530係(xi)統(tong)針(zhen)對(dui)必(bi)須(xu)適(shi)應(ying)廣(guang)泛(fan)產(chan)品(pin)組(zu)合(he)的(de)生(sheng)產(chan)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing),或(huo)者(zhe)在(zai)寬(kuan)範(fan)圍(wei)應(ying)用(yong)靈(ling)活(huo)性(xing)和(he)快(kuai)速(su)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)開(kai)發(fa)等(deng)至(zhi)關(guan)重(zhong)要(yao)的(de)場(chang)合(he)中(zhong)的(de)使(shi)用(yong)進(jin)行(xing)了(le)優(you)化(hua)。
- 加速並簡化了S530測試係統到測試平台的集成
- 軟件兼容性強
- 長期穩定型好,易於維護
- 高吞吐量晶圓生產測試
先進電氣測試儀器與係統的世界級領導者吉時利儀器公司發布了獲得業界好評的吉時利測試環境(KTE)半導體測試軟件的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時利迄今為止最快、最經濟有效的過程控製監控方案產品線S530參數測試係統設計的。
KTE是一款強大的測試開發和運行軟件平台,全球有數百家半導體晶圓廠都在使用吉時利前幾代的參數測試係統。現在,吉時利的S530測試係統利用這個被業界長期驗證的軟件平台在最苛刻的生產環境中實現了靈活的測試計劃開發和高速測試。現有吉時利S400和S600係列參數測試儀用戶將特別受益於S530係統上的KTE V5.3,因為可以將既有測量程序輕鬆地移植到S530,而且現有測試儀和新的S530係統可以共享同一個測試計劃。
將KTE測試開發和運行環境擴展至S530係統結合了吉時利30年的參數測試代碼開發實踐經驗和市場上最快、最先進的係統硬件優勢。S530儀器提供過程控製監控等參數測試應用要求的高速度和寬測量範圍。
吉ji時shi利li致zhi力li於yu讓rang新xin測ce試shi係xi統tong高gao度du兼jian容rong較jiao早zao的de係xi統tong支zhi持chi吉ji時shi利li參can數shu測ce試shi客ke戶hu。保bao持chi軟ruan件jian兼jian容rong性xing的de承cheng諾nuo確que保bao了le移yi植zhi路lu徑jing更geng為wei平ping滑hua並bing能neng在zai測ce試shi平ping台tai上shang加jia入ru更geng新xin、更(geng)高(gao)速(su)測(ce)試(shi)儀(yi)以(yi)保(bao)護(hu)晶(jing)圓(yuan)廠(chang)的(de)測(ce)試(shi)軟(ruan)件(jian)投(tou)資(zi)。對(dui)於(yu)吉(ji)時(shi)利(li)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)的(de)新(xin)客(ke)戶(hu),恪(ke)守(shou)係(xi)統(tong)軟(ruan)件(jian)連(lian)續(xu)性(xing)的(de)承(cheng)諾(nuo)意(yi)味(wei)著(zhe)客(ke)戶(hu)會(hui)對(dui)基(ji)於(yu)業(ye)界(jie)長(chang)期(qi)驗(yan)證(zheng)軟(ruan)件(jian)的(de)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)充(chong)滿(man)信(xin)心(xin)。
對於已經使用KTE較早版本的客戶來說,KTE V5.3加速並簡化了S530測試係統到測試平台的集成。
• 同tong一yi種zhong測ce試shi方fang法fa和he測ce試shi方fang案an適shi用yong於yu所suo有you吉ji時shi利li自zi動dong參can數shu測ce試shi係xi統tong,這zhe不bu僅jin縮suo短duan了le使shi用yong多duo個ge係xi統tong的de測ce試shi工gong程cheng師shi和he操cao作zuo人ren員yuan的de學xue習xi過guo程cheng,而er且qie在zai測ce試shi平ping台tai增zeng加jia新xin的de高gao速su係xi統tong或huo取qu代dai較jiao早zao平ping台tai時shi提ti供gong平ping滑hua的de移yi植zhi路lu徑jing以yi保bao護hu晶jing圓yuan廠chang的de測ce試shi開kai發fa投tou入ru。
• 用戶隻需重新編譯和重新生成多年來為更早的吉時利係統開發的常用用戶庫,就能繼續在S530上使用這些用戶庫。通常,隻需進行少量調試。
• KTE V5.3簡化了創建條件測試序列的新用戶訪問點(UAP)源代碼以及定製S530的係統工作流程。為早期吉時利係統開發的UAP源代碼適用於S530係統,隻需作少量調整。
• KTE的工具對吉時利所有參數測試平台都具有完全相同的功能性。
麵向S530的KTE適於在標準工業PC的Linux操作係統上運行以確保長期穩定性和易於維護性。該軟件已針對高吞吐率生產測試環境作了速度和擴展可靠性的優化。運行KTE V5.3的S530係統能實現過程控製監控、過程可靠性監控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530係(xi)統(tong)針(zhen)對(dui)必(bi)須(xu)適(shi)應(ying)廣(guang)泛(fan)產(chan)品(pin)組(zu)合(he)的(de)生(sheng)產(chan)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing),或(huo)者(zhe)在(zai)寬(kuan)範(fan)圍(wei)應(ying)用(yong)靈(ling)活(huo)性(xing)和(he)快(kuai)速(su)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)開(kai)發(fa)等(deng)至(zhi)關(guan)重(zhong)要(yao)的(de)場(chang)合(he)中(zhong)的(de)使(shi)用(yong)進(jin)行(xing)了(le)優(you)化(hua)。
特別推薦
- 噪聲中提取真值!瑞盟科技推出MSA2240電流檢測芯片賦能多元高端測量場景
- 10MHz高頻運行!氮矽科技發布集成驅動GaN芯片,助力電源能效再攀新高
- 失真度僅0.002%!力芯微推出超低內阻、超低失真4PST模擬開關
- 一“芯”雙電!聖邦微電子發布雙輸出電源芯片,簡化AFE與音頻設計
- 一機適配萬端:金升陽推出1200W可編程電源,賦能高端裝備製造
技術文章更多>>
- 2026藍牙亞洲大會暨展覽在深啟幕
- 新市場與新場景推動嵌入式係統研發走向統一開發平台
- 維智捷發布中國願景
- 2秒啟動係統 • 資源受限下HMI最優解,米爾RK3506開發板× LVGL Demo演示
- H橋降壓-升壓電路中的交替控製與帶寬優化
技術白皮書下載更多>>
- 車規與基於V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索





