美國吉時利（Keithley）儀器公司近日宣布將舉辦2010年度新能源與新材料測試技術全國巡回研討會。巡回研討會將從9月初開始，在成都
、重慶、合肥、南京、哈爾濱、武漢、蘭州舉辦。網絡報名即時啟動，詳情請登陸鏈接：http://www.keithley.cn/edm/10/roadshow/pr 。

身為新興測量需求解決方案領導者
，吉時利長期致力於不斷推出新產品、新技術和新方法，以滿足高精度、高速度
、高靈敏度和分辨率的測試測量需求，成為新工藝、新材料、新產品的質量保證。

吉時利資深技術應用工程師將與出席本次巡展的客戶、合作夥伴和技術愛好者深入交流如下主要領域的技術與解決方案：

綠色電子革命中的光電測試/新能源測試方案

伴隨光電產業尤其是光通訊領域技術與應用不斷創新和發展，對高精度、低成本
、高產能的光電測試解決方案的需求日益增強。針對實現可再生能源的相關熱點話題
，吉時利技術專家將在研討會中重點介紹光電二極管（LIV）測試係統利用最新的測試技術提高測試產能並降低測試成本，確保器件的可靠性和質量

；精密太陽能測試解決方案
，實現快速而全麵的新型太陽能材料特征分析

；最新LED測試係統（和外部機械手如何配合）以實現更高的準確度

、可靠性和經濟效益。

新材料的測試方案

不斷出現的新材料、大(da)功(gong)率(lv)器(qi)件(jian)推(tui)動(dong)測(ce)試(shi)方(fang)式(shi)和(he)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)改(gai)變(bian)和(he)升(sheng)級(ji)
，高(gao)品(pin)質(zhi)電(dian)氣(qi)測(ce)量(liang)是(shi)新(xin)材(cai)料(liao)和(he)器(qi)件(jian)的(de)發(fa)展(zhan)的(de)質(zhi)量(liang)保(bao)證(zheng)。吉(ji)時(shi)利(li)儀(yi)器(qi)在(zai)為(wei)納(na)米(mi)技(ji)術(shu)提(ti)供(gong)電(dian)氣(qi)測(ce)量(liang)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)領(ling)域(yu)居(ju)世(shi)界(jie)領(ling)先(xian)水(shui)平(ping)
，該(gai)新(xin)興(xing)研(yan)究(jiu)領(ling)域(yu)將(jiang)為(wei)電(dian)子(zi)、材料、生物工程
、替代能源等多個領域帶來巨大進步。吉時利技術專家將分享其測量工具ruhepingjiwukebinidexingnengyoushi，bangzhunamijishuyanjiurenyuanguanchadaojinianqianbukenengguanchadaodexianxiang，zhubujiekainamilingyudeaomibingzuizhongcujinnamijishucongshiyanshiyanjiuzouxiangshangyongchanpin。yantaoyitijiangbaokuozuidaxiandutigaonamicailiaotezhengfenxinengli
，huoerxiaoying（Hall Effect）測量主題
，如何確定半導體的參數，例如載流子移動性和載流子濃度
、霍爾係數、以及電導率和導電類型
，脈衝材料測試及MOS典型參數的測試方法。

微弱信號測量難點與應對方案

吉時利微弱信號測量領域的深厚理論功底和超過六十年的設計經驗，得以為全球高校
、公司、政(zheng)府(fu)實(shi)驗(yan)室(shi)提(ti)供(gong)新(xin)材(cai)料(liao)和(he)新(xin)器(qi)件(jian)領(ling)域(yu)的(de)研(yan)究(jiu)提(ti)供(gong)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。針(zhen)對(dui)如(ru)何(he)正(zheng)確(que)地(di)進(jin)行(xing)微(wei)弱(ruo)信(xin)號(hao)測(ce)量(liang)，以(yi)達(da)到(dao)對(dui)微(wei)弱(ruo)電(dian)信(xin)號(hao)進(jin)行(xing)捕(bu)獲(huo)和(he)定(ding)量(liang)分(fen)析(xi)目(mu)的(de)，本(ben)次(ci)研(yan)討(tao)會(hui)重(zhong)點(dian)講(jiang)授(shou)進(jin)行(xing)全(quan)麵(mian)的(de)電(dian)子(zi)測(ce)試(shi)並(bing)提(ti)高(gao)測(ce)試(shi)產(chan)能(neng)所(suo)必(bi)需(xu)的(de)基(ji)本(ben)測(ce)試(shi)原(yuan)理(li)，更(geng)加(jia)合(he)理(li)的(de)進(jin)行(xing)微(wei)弱(ruo)信(xin)號(hao)測(ce)量(liang)，應(ying)對(dui)測(ce)試(shi)中(zhong)常(chang)見(jian)的(de)問(wen)題(ti)和(he)挑(tiao)戰(zhan)
，例(li)如(ru)如(ru)何(he)避(bi)免(mian)噪(zao)聲(sheng)幹(gan)擾(rao)，減(jian)小(xiao)測(ce)試(shi)誤(wu)差(cha)等(deng)
，及(ji)提(ti)高(gao)測(ce)試(shi)質(zhi)量(liang)
、獲取更精確數據、采集更可靠的測試結果的方法和技巧。

多路數據采集和高速度/高精度測試方案

針對電子產品的多樣性和日益增強的測試要求，靈活、易拓展的多路數據采集係統，吉時利數字萬用表/shujucaijixitongmanzuyanfayonghuduijingqueduhelingmindudexuyao，yijishengchanguochengceshidegaochannengxuqiu。benciyantaohuijiangtongguodianxingshilirudianyuanlaohuaceshixitongjiduoyinjiaoICchazuoceshixitongweinintigonggaosudugaojingduceshijiejuefangan
，zhanshiyingyongzaiyanfashiyanshihuoshengchanxianchangdejishiligezhongguigedeceliangjiejuefangan，hangaicongchajianbandaojuyouduodianceliangyukongzhigongnengdewaibuxitongchanpin。