EMC測試指的是對電子產品在電磁場方麵幹擾大小（EMI）和抗幹擾能力（EMS）的綜合評定，是產品質量最重要的指標之一，電磁兼容的測量由測試場地和測試儀器組成。EMC測試目的是檢測電器產品所產生的電磁輻射對人體
、公共電網以及其他正常工作之電器產品的影響。

 

對於從事單片機應用係統設計的工程師而言
，掌握EMC測試技術是很重要的。EMC測試包括電磁幹擾（EMI）和電磁敏感性（EMS）兩(liang)部(bu)分(fen)。由(you)於(yu)電(dian)器(qi)產(chan)品(pin)在(zai)使(shi)用(yong)時(shi)對(dui)其(qi)它(ta)電(dian)器(qi)有(you)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)，或(huo)受(shou)到(dao)其(qi)它(ta)電(dian)器(qi)的(de)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)
，它(ta)不(bu)僅(jin)關(guan)係(xi)到(dao)產(chan)品(pin)工(gong)作(zuo)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)和(he)安(an)全(quan)性(xing)
，還(hai)可(ke)能(neng)影(ying)響(xiang)其(qi)它(ta)電(dian)器(qi)的(de)正(zheng)常(chang)工(gong)作(zuo)，甚(shen)至(zhi)導(dao)致(zhi)安(an)全(quan)危(wei)險(xian)。本(ben)文(wen)將(jiang)主(zhu)要(yao)給(gei)主(zhu)要(yao)給(gei)大(da)家(jia)講(jiang)解(jie)EMC測試的相關知識。

 

單片機係統EMC測試包括

 

 

測試環境：為了保證測試結果的準確和可靠性
，電磁兼容性測量對測試環境有較高的要求，測量場地有室外開闊場地
、屏蔽室或電波暗室等。

 

測試設備：電磁兼容測量設備分為兩類
，一類是電磁幹擾測量設備，設備接上適當的傳感器，就可以進行電磁幹擾的測量；另一類是在電磁敏感度測量，設備模擬不同幹擾源，通過適當的耦合/去耦網絡
、傳感器或天線，施加於各類被測設備，用作敏感度或幹擾度測量。

 

測量方法：電磁兼容性測試依據標準的不同，有許多種測量方法，但歸納起來可分為4類
；傳導發射測試、輻射發射測試、傳導敏感度（抗擾度）測試和輻射敏感度（抗擾度）測試。

 

測試準備：EMC測ce試shi實shi驗yan室shi為wei電dian波bo半ban暗an室shi和he屏ping蔽bi室shi。前qian者zhe用yong於yu輻fu射she發fa射she和he輻fu射she敏min感gan測ce試shi，後hou者zhe用yong於yu傳chuan導dao發fa射she和he傳chuan導dao敏min感gan度du測ce試shi。傳chuan導dao和he輻fu射she的de電dian磁ci環huan境jing電dian平ping最zui好hao遠yuan低di於yu標biao準zhun規gui定ding的de極ji限xian值zhi
，一yi般ban使shi環huan境jing電dian平ping至zhi少shao低di於yu極ji限xian值zhi6dB。

 

電磁幹擾測試的要點

 

電磁幹擾是幹擾電纜信號並降低信號完好性的電子噪音
，EMI通常由電磁輻射發生源如馬達和機器產生。電磁幹擾是人們早就發現的電磁現象，它幾乎和電磁效應的現象同時被發現
，1981年英國科學家發表“論幹擾”的文章，標誌著研究幹擾問題的開始。1989年英國郵電部門研究了通信中的幹擾問題
，使幹擾問題的研究開始走向工程化和產業化。

 

電磁幹擾（EMI）和電磁敏感度（EMS）測試，需要用到許多電子儀器，如頻譜分析儀、電磁場幹擾測量儀、信號源、功能放大器
、示波器等。由於EMC測試頻率很寬（20Hz～40GHz）、幅度很大（μV級至kW級）、模式很多（FM、AM等）
、姿態很多（平放

、斜放等），因此正確地使用電子儀器非常重要。

 

測(ce)量(liang)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)的(de)合(he)適(shi)儀(yi)器(qi)是(shi)頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)，頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)是(shi)一(yi)種(zhong)將(jiang)電(dian)壓(ya)幅(fu)度(du)隨(sui)頻(pin)率(lv)變(bian)化(hua)的(de)規(gui)律(lv)顯(xian)示(shi)出(chu)來(lai)的(de)儀(yi)器(qi)
，它(ta)顯(xian)示(shi)的(de)波(bo)形(xing)稱(cheng)為(wei)頻(pin)譜(pu)。頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)克(ke)服(fu)了(le)示(shi)波(bo)器(qi)在(zai)測(ce)量(liang)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)中(zhong)的(de)缺(que)點(dian)，能(neng)夠(gou)精(jing)確(que)測(ce)量(liang)各(ge)個(ge)頻(pin)率(lv)上(shang)的(de)幹(gan)擾(rao)強(qiang)度(du)

，用(yong)頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)可(ke)以(yi)直(zhi)接(jie)顯(xian)示(shi)出(chu)信(xin)號(hao)的(de)各(ge)個(ge)頻(pin)譜(pu)分(fen)量(liang)。電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)故(gu)障(zhang)排(pai)除(chu)技(ji)術(shu)需(xu)要(yao)解(jie)決(jue)傳(chuan)導(dao)型(xing)問(wen)題(ti)，通(tong)過(guo)串(chuan)聯(lian)一(yi)個(ge)高(gao)阻(zu)抗(kang)來(lai)減(jian)少(shao)EMI電流，並聯一個低阻抗將EMI電流短路到地或引到其它回路導體

，電流隔離裝置切斷EMI電流等難題。

 

zaijiejuedianciganraowentishi，zuizhongyaodeyigewentishipanduanganraodelaiyuan。zhiyouzhunquejiangganraoyuandingweihou
，cainenggoutichujiejueganraodecuoshi。genjuxinhaodepinlvlaiquedingganraoyuanquanshizuijiandandefangfa，yinweizaixinhaodesuoyoutezhengzhong，pinlvtezhengshizuiwendingde，bingqiedianlushejirenyuanwangwangduidianluzhonggegebuweidexinhaopinlvdoushifenqingchu。yinci，zhiyaozhidaoleganraoxinhaodepinlv，jiunenggoutuicechuganraoshinagebuweichanshengde。duiyudianciganraoxinhao，youyuqifuduwangwangyuanxiaoyuzhengchanggongzuoxinhao
，yongpinpufenxiyizuozhezhongceliangshishifenjiandande。youyupinpufenxiyidezhongpindaikuanjiaozhai
，yincinenggoujiangyuganraoxinhaopinlvbutongdexinhaolvchudiao
，jingquediceliangchuganraoxinhaopinlv，congerpanduanchanshengganraoxinhaodedianlu。

 

如今，隨著人們對精確度和電子產品質量要求越來越高
，EMCceshiyeyuelaiyuezhongyao，yiqianbuxuyaoceshidexianzaidouxuyaojinxingceshi，zheyeshigongchengshixuyaoxuexidedifang，weilai，jiangyougengduodexingyebiaozhunchuxian
，jieshi
，gongchengshixuexidedongxigengduole。