近場探棒為疑難解答工具，首先你必須確定產品有電磁幹擾的問題
，通常會在兼容性測試(compliance test )或預先認證(pre-compliance)檢測時發現。應先透過遠場測量，找出超過法規限製輻射量要求的頻率
，然後再找出輻射源。

 

 

假(jia)設(she)你(ni)的(de)產(chan)品(pin)超(chao)過(guo)輻(fu)射(she)標(biao)準(zhun)，而(er)且(qie)您(nin)試(shi)圖(tu)找(zhao)出(chu)原(yuan)因(yin)，可(ke)試(shi)試(shi)以(yi)下(xia)方(fang)法(fa)。若(ruo)想(xiang)找(zhao)到(dao)電(dian)路(lu)板(ban)的(de)輻(fu)射(she)源(yuan)

，你(ni)可(ke)能(neng)需(xu)要(yao)在(zai)頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)上(shang)連(lian)接(jie)一(yi)個(ge)簡(jian)單(dan)的(de)磁(ci)場(chang)探(tan)棒(bang) (圖1)，然後手動拿著探棒在電路板四處檢測，或是使用自動探棒測試器(automated probe station)近距離檢查。當探棒掃過電路板時
，頻譜分析儀將會顯示振幅最大的幹擾諧波(offending harmonics)在何處。當你發現高次諧波(higher harmonic)時
，你就會說“啊哈，我找到它了。”

圖1 近場探棒組可能包含三種尺寸的磁場探棒(H-Field) 及一組電場探棒(E-Field) 。

 

在你真的確認是否有遠場幹擾輻射源前，必須考慮以下兩件事：

 

 

測試的地點是否為傳播場(propagating field)

？

 

磁場由電流所產生，在已知頻率下無論電流多高，你可在頻譜分析儀上看到測量出的峰值(peak)。高電流的狀況可能會發生在電路板的線路上或是芯片內部等。

 

你ni必bi須xu注zhu意yi印yin刷shua電dian路lu板ban的de堆dui疊die方fang式shi，用yong近jin場chang探tan棒bang檢jian測ce層ceng數shu較jiao少shao的de電dian路lu板ban較jiao為wei容rong易yi。然ran而er，碰peng到dao線xian路lu密mi度du分fen布bu高gao的de電dian路lu板ban，特te別bie是shi堆dui疊die很hen多duo層ceng的de板ban子zi
，還hai有you在zai不bu同tong層ceng采cai用yong不bu同tong電dian流liu源yuan的de狀zhuang況kuang下xia，透tou過guo近jin場chang探tan棒bang作zuo檢jian測ce會hui變bian得de比bi較jiao困kun難nan，需xu要yao特te別bie留liu意yi與yu分fen析xi。

 

這裏有其它可能原因造成高頻時產生高電流的狀況。如果你隻是在離電路板高一點的位置找高近場(high near-fields)，你可能會認為是去耦電容(decoupling capacitor)造成高度輻射。在下此結論之前，先考慮一下去耦電容本身的功能。

 

去耦電容是為了在電路板電源層 (power plane)和接地層(ground plane)間(或線路間)的高頻環境下產生低阻抗路徑(low impedance path)
，防止高頻噪聲電壓產生。若有任何噪聲電壓產生(例如由芯片所產生的)
，都會在電容中發現低阻抗路徑。

 

這(zhe)代(dai)表(biao)電(dian)容(rong)將(jiang)會(hui)導(dao)入(ru)電(dian)流(liu)來(lai)降(jiang)低(di)噪(zao)聲(sheng)電(dian)壓(ya)。因(yin)為(wei)電(dian)容(rong)的(de)功(gong)能(neng)就(jiu)是(shi)導(dao)入(ru)電(dian)流(liu)而(er)控(kong)製(zhi)電(dian)源(yuan)層(ceng)和(he)接(jie)地(di)層(ceng)的(de)噪(zao)聲(sheng)，因(yin)此(ci)

，近(jin)場(chang)磁(ci)探(tan)棒(bang)可(ke)以(yi)在(zai)電(dian)容(rong)間(jian)探(tan)測(ce)到(dao)較(jiao)大(da)的(de)近(jin)場(chang)(greater near fields)。這並非代表電容會造成問題，而是電容在執行本身應有的功能。

 

qici，bushisuoyoudejinchangdouhuichuanbo。touguoshuxuedezhengmingfangfayijingchaochulebenwendefanwei，danfeichuanboshidejinchangzhinengchucunnengliang。shiyongjinchangtanbang

，niwufaquedingjinchangceliangshichuanbohuofeichuanboshi。zhebingbuyiweizhejinchangcitanbangmeiyoubangzhu，tazhishigaosuwomenzaixiajielunqianshixuxianjinshensikao。

 

 

另一種很常見的調試方式是使用磁探棒在屏蔽內四處“嗅探”幹擾輻射波由何處泄出，因為表麵電流(surface currents)無法穿透外殼屏蔽(shielded enclosure)的結構縫隙，而會圍繞著這些孔隙，而磁探棒通常可以感測到。目前這種測試的結果都很良好。

 

如果是大型屏蔽(electrically large，在頻率方麵大於1/4波長)，並存在噪聲電流

，便會產生駐波，這取決於外殼大小。如果頻率對應的外殼尺寸是1/2波長
，即使附近沒有孔隙，駐波也會在外殼達到最強。這種情況讓多名EMC工程師猜想輻射波也許由屏蔽的金屬牆穿透，而非透過孔隙。

 

由於集膚效應(skin effect)
，射頻電流通常不能穿越屏蔽的金屬牆，而必須透過孔隙或是纜線/連接器而穿透出去。在此例中
，磁場探棒的高讀取無法找出噪聲泄漏點。

 

測(ce)量(liang)可(ke)適(shi)當(dang)地(di)安(an)撫(fu)情(qing)緒(xu)。但(dan)是(shi)，你(ni)應(ying)當(dang)了(le)解(jie)測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)，以(yi)確(que)保(bao)你(ni)的(de)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)符(fu)合(he)原(yuan)先(xian)的(de)需(xu)求(qiu)
，還(hai)有(you)做(zuo)出(chu)的(de)結(jie)論(lun)合(he)理(li)且(qie)符(fu)合(he)物(wu)理(li)原(yuan)則(ze)。切(qie)勿(wu)盲(mang)目(mu)地(di)接(jie)受(shou)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)，並(bing)且(qie)依(yi)此(ci)驟(zhou)下(xia)結(jie)論(lun)。

 

總歸一句，當去耦電容的設計適當、且連接電感(connection inductance)最小化時，其使用的好處會比壞處多。