從EMC問題出發設計MCU(一)
發布時間:2013-03-10 責任編輯:Lynnjiao
【導讀】由於電子係統的EMC設計中最主要的是微處理器的設計,本文從電子係統中的EMC問題出發,分析和總結了噪聲的產生機理並提出消除噪聲的方法。對以MCU應用設計發展具有重要的實踐意義。
在概念上,電磁兼容性(EMC)包含係統本身的電磁敏感性(EMS)以及電磁雜音發射(EME)兩個部分。EME描述的是器件在測試(DUT)的情況下是噪聲源,而EMS描述的是器件在 DUT的情況下是噪聲受害者。在大多數係統設計中,EMCbiandeyuelaiyuezhongyao。ruguoshejidexitongbuganraoqitaxitong,yebushouqitaxitongfasheyingxiang,bingqiebuhuiganraoxitongzishen,namesuoshejidexitongjiushidiancijianrongde。
在電磁兼容設計中,“受害方”的概念通常指那些由於設計缺乏EMC考慮而受到影響的部件受害部件可能在基於MCU的PCB或者模組的內部,也可能是外部係統通常的受害部件是汽車免持鑰匙入車(Keyless-Entry)模組中的寬帶接收器或者是車庫門開啟裝置接收器,由於接收到MCU發出的足夠強的雜訊,這些模組中的接收器會誤認為接收到了一個遙控信號。
從長遠角度來看,電磁環境噪聲在一個給定的空間內是增長的,如圖1曲qu線xian所suo示shi,當dang在zai電dian子zi設she備bei的de抗kang幹gan擾rao性xing高gao於yu電dian磁ci環huan境jing噪zao聲sheng任ren何he點dian時shi,電dian子zi設she備bei的de功gong能neng都dou不bu將jiang受shou影ying響xiang,遺yi憾han的de是shi,現xian在zai電dian子zi係xi統tong大da部bu分fen具ju有you較jiao高gao的de工gong作zuo頻pin率lv和he較jiao低di的de電dian平ping開kai關guan門men限xian(由於較低工作電源),防噪聲能力逐漸下降,如圖1中的曲線2。

圖1:環境噪聲長遠發展趨勢
MCU中存在的EMC
MCU一般包括通用型和專用型兩類,大部分都采用了各種不同形式的EMC技術,其中在用戶端無任何措施的情況下,有些技術是還是有效的,其它則需要適當的留心PCB設計。因此可以說,雜訊來源主要有兩部分∶MCU的內部噪聲,MCU傳播到外麵的噪聲。
MCU內部存在四種主要的噪聲源∶內部彙流排和節點同步開關產生的電源和地線上的電流;輸出管腳信號的變換;振蕩器工作產生的雜訊;開關電容負載產生的片上信號假像。根據經驗,實際應用中高頻率的窄帶雜訊比寬帶雜音能耗高,所以以下主要介紹窄帶雜訊。
主要噪聲源
除AD轉換器、振蕩器和I/Oring之外,所有內部邏輯被列為內核。典型的內核和外部引腳是沒有關聯的,但電源引腳除外。例如,在圖2中內核包含CPU、鎖相環、程序記憶體、RAM及周邊器件包括CAN記憶體。I/Oring包括帶有埠緩衝的電源和地麵通道係統以及保護電路。所以,大多數MCU的I/Oring電源和內核電源是分開的。

圖2:典型的MCU布局
(1)振蕩器
當涉及到時鍾和窄帶雜訊,大家自然而然地就會想到振蕩器。圖3顯示了NEC公司典型MCU的石英振蕩器信號X1和X2的措施。雖然信號不是完全的正弦波形,但比較接近。事實上,根據頻譜分析僅能表示少數一些諧波。此外,和MCU的總功耗相比,振蕩器的功耗是相當較低的,因此MCU的石英振蕩器引起的噪音輻射相當低。然而,信號形狀和其頻譜可能大大有別於其它類型的振蕩器,例如RC振蕩器。

圖3:MCU的石英振蕩器引起的噪音
(2)內核、PLL和時鍾樹
正弦時鍾不能使用在如MCU等內部是數位邏輯的器件上,因此,在CMOS型MCU上shang,振zhen蕩dang器qi時shi鍾zhong被bei整zheng形xing為wei矩ju形xing,並bing且qie通tong過guo時shi鍾zhong樹shu分fen布bu在zai內nei部bu裝zhuang置zhi中zhong。由you於yu時shi鍾zhong具ju有you多duo種zhong用yong途tu,到dao時shi鍾zhong樹shu的de各ge分fen支zhi具ju有you傳chuan播bo延yan遲chi,必bi須xu調tiao整zheng時shi鍾zhong邊bian緣yuan到dao各ge地di裝zhuang置zhi大da約yue在zai同tong一yi時shi間jian。所suo有you開kai關guan型xing核he心xin組zu件jian的de電dian流liu幾ji乎hu是shi在zai同tong一yi時shi間jian內nei,由you此ci內nei核he的de脈mai衝chong電dian流liu是shi一yi個ge主zhu要yao的de內nei核he噪zao聲sheng源yuan。
MCUtongchangshiyongliangzhongbianyuandeshizhong,youcineihedianliudezhaidaipinpuzaineihedeyunxingpinlvjiqixiebopinlvshangchengxiandianliufengzhi,chengxiandezuigaopinlvyibanshineiheyunxingpinlvdeliangbei。youyuMCU通tong常chang包bao括kuo一yi個ge或huo多duo個ge時shi鍾zhong分fen頻pin器qi,因yin此ci低di頻pin諧xie波bo也ye必bi須xu考kao慮lv。最zui後hou,內nei部bu資zi料liao操cao作zuo等deng在zai低di電dian平ping時shi提ti供gong一yi些xie寬kuan帶dai雜za訊xun。一yi方fang麵mian,振zhen蕩dang器qi之zhi前qian的de外wai擴kuo也ye是shi一yi個ge小xiao的de噪zao聲sheng源yuan,另ling一yi方fang麵mian,內nei核he電dian流liu是shi和he內nei核he的de運yun作zuo頻pin率lv相xiang關guan的de。
如果內核頻率是一樣的,利用一個較慢的振蕩器和鎖相環(例如4MHz×4=16MHz)或使用較快振蕩器(例如16MHz),這樣應當引起相似級別的輻射。
(3)外部記憶體接口
外部記憶體接口包括地址彙流排,資料彙流排和一些控製信號。地址彙流排由MCU輸出,由於非線性存取順序提供的是非周期信號,因此,從EME角度講,地址彙流排相當於寬帶雜訊,低地址位通常比較高的地址位具有更多的開關頻率,所以這些都是較為重要的信號。
如果外部記憶體是唯讀或Flash記憶體,資料彙流排由記憶體驅動,即便記憶體是RAM,讀取周期也通常占主導地位。因此,資料彙流排的電磁輻射主要是決定於記憶體。
對於控製信號的電磁輻射,是記憶體接口上最應當注意的部分。最關鍵的信號是係統和/或記憶體的時鍾驅動器(SDRAM),因為它可產生巨大的窄帶雜訊,在啟動狀態下,即使引腳是開路的,它的噪聲也是較大的(參見到 I/O埠串擾的說明),因此無論任何地方,時鍾驅動器都應該被關掉。最後,由於這些開關信號(RAS、CAS、ASTB等)常常無規律的反複跳變,所以它們是潛在的噪聲源。
(4)I/O-ring上的通用埠
這zhe些xie引yin腳jiao的de電dian磁ci輻fu射she無wu法fa估gu計ji,由you於yu這zhe些xie引yin腳jiao一yi般ban由you用yong戶hu配pei置zhi。靜jing電dian或huo偶ou爾er開kai關guan引yin腳jiao應ying不bu會hui造zao成cheng重zhong大da的de輻fu射she,而er頻pin繁fan開kai關guan切qie換huan的de引yin腳jiao已yi被bei視shi為wei潛qian在zai噪zao音yin來lai源yuan。重zhong複fu的de切qie換huan引yin腳jiao由you於yu其qi窄zhai帶dai特te性xing可ke能neng比bi非fei重zhong複fu引yin腳jiao包bao括kuo較jiao高gao的de雜za訊xun,例li如ru係xi統tong時shi鍾zhong或huoCSI時鍾,還有CSI資料輸出或CAN資料輸出。
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