內置肖特基二極管的MOSFET可提高應用性能
發布時間:2017-11-28 來源:Filippo Scrimizzi 責任編輯:lina

當一個功率MOSFET被用在電橋拓撲或用作電源二次側同步整流時,體漏二極管的特性及質量因子將變得非常重要。當需要Qrr數值很低的軟反向恢複時,集成肖特基二極管的新60V“F7”功率MOSFET確保能效和換向性能更加出色。
在同步整流和電橋結構中,RDSon和Qg兩個參數並不是對功率MOSFET的唯一要求,實際上,本征體漏二極管的動態特性對MOSFET整體性能影響很大。體漏二極管的正向壓降(VF,diode)影響開關在續流期間(開關處於關斷狀態,電流從源極經本征二極管流至漏極)的功率損耗;反向恢複電荷(Qrr)不僅影響開關在反向恢複過程的損耗,還影響開關性能。
MOSFET的尖峰電壓隨著Qrr升高而升高,因此,VFD和Qrr較jiao低di的de二er極ji管guan,例li如ru肖xiao特te基ji二er極ji管guan,有you助zhu於yu提ti高gao開kai關guan的de總zong體ti性xing能neng,在zai電dian橋qiao拓tuo撲pu或huo用yong作zuo同tong步bu整zheng流liu器qi應ying用yong中zhong,當dang開kai關guan頻pin率lv很hen高gao且qie二er極ji管guan長chang時shi間jian導dao通tong時shi,提ti升sheng性xing能neng的de效xiao果guo特te別bie明ming顯xian。本ben文wen將jiang在zai開kai關guan電dian源yuan和he電dian機ji控kong製zhi環huan境jing中zhong評ping估gu內nei置zhi肖xiao特te基ji二er極ji管guan的de新xin60V MOSFET的性能,並對比標準器件,重點論述新60V MOSFET的優勢。
MOSFET本征體漏二極管和肖特基二極管特性
圖1所示是一個N溝道功率MOSFET的典型符號。本征體漏二極管由p-body和n-drift兩個區組成,如圖1所示,體漏二極管與MOSFET的導電溝道並聯。

一旦選擇了功率MOSFET,yinweiguitexinghechanpinshejideyuanyin,qineibujichengdebentierjiguandetexingyejiugudingxialai。benzhengtilouerjiguanyuqijianxindaobinglian,suoyi,fenxigaibenzhengtilouerjiguandedongjingtaitexing,tebieshizaierjiguandaotongtiaojianxia,juyouzhongyaoyiyi。yinci,zaifanxianghezhengxiangpianyaguochengzhong,xuyaokaolvzuduandianyahezhengxiangdianliudezuidazhi,tongshi,yanjiuzaigonglvkaiguandaotonghouguanduanqijiandeerjiguanfanxianghuifuguochengyehenzhongyao(圖2)。

圖2 二極管反向恢複過程。
當二極管正向偏壓變成反向偏壓時,電流不會立即降至零值,因為消除通態期間儲存的電荷需要時間。因此,當t=t0時,二極管開始換向操作,電流開始下降,下降斜率(-a)恒定,外部電感和電源電壓是決定斜率的唯一因素。在t1之前,二極管被施加正向偏壓,從t1到t2,二極管壓降上升,達到電源電壓;在t=t2時,反向電流達到最大值。間隔(t3-t0)被稱為反向恢複時間(trr),而負電流與零線之間的區域是反向恢複電荷(Qrr)。tB期間的電流斜率主要與產品設計和矽特性有關。
軟度因子是軟度與快速恢複分類標準,這個參數在很多應用領域都十分重要。軟度因子越大,反向恢複軟度越高。實際上,如果tB區(qu)非(fei)常(chang)短(duan),電(dian)流(liu)快(kuai)速(su)變(bian)化(hua)與(yu)電(dian)路(lu)本(ben)征(zheng)電(dian)感(gan)就(jiu)會(hui)產(chan)生(sheng)不(bu)想(xiang)看(kan)到(dao)的(de)電(dian)壓(ya)過(guo)衝(chong)和(he)振(zhen)鈴(ling)效(xiao)應(ying)。尖(jian)峰(feng)電(dian)壓(ya)可(ke)能(neng)會(hui)高(gao)於(yu)功(gong)率(lv)開(kai)關(guan)管(guan)的(de)擊(ji)穿(chuan)電(dian)壓(ya),此(ci)外(wai),EMI性能也會惡化。如圖2所示,在二極管反向恢複期間,大電流和高反向電壓會同時產生耗散功率,致使係統性能降低。
ciwai,zaidianqiaotuopuzhong,xiaqiaobikaiguandezuidafanxianghuifudianliujiadaoshangqiaobikaiguandianliuzhong,zhishihaosangonglvshangshengzhizuidaedingzhi。zaibentierjiguanchongdangxuliuqijiandedianqiaotuopu、降壓轉換器或同步整流等開關應用中,反向恢複電荷(Qrr)減少有助於係統性能最大化,抑製尖 峰電壓,降低關斷時的開關噪聲。在MOSFET結jie構gou內nei集ji成cheng一yi個ge肖xiao特te基ji二er極ji管guan是shi一yi個ge效xiao果guo不bu錯cuo的de解jie決jue方fang案an。集ji成cheng肖xiao特te基ji二er極ji管guan的de方fang法fa是shi在zai金jin屬shu薄bo膜mo層ceng與yu半ban導dao體ti區qu之zhi間jian製zhi作zuo一yi個ge電dian觸chu點dian,電dian流liu主zhu要yao是shi與yu多duo數shu載zai流liu子zi有you關guan,因yin為wei儲chu存cun電dian荷he少shao,肖xiao特te基ji二er極ji管guan正zheng反fan偏pian壓ya切qie換huan比bi其qi他ta矽gui二er極ji管guan快kuai。此ci外wai,肖xiao特te基ji正zheng向xiang壓ya降jiang(≈0.3V)比標準矽二極管低,這意味著肖特基的通態功率損耗小。
當隻有優化Qrr和VF,diode才能提高係統總體性能時,集成肖特基二極管的新60V MOSFET是一個正確選擇。圖3列出了標準MOSFET和集成肖特基的功率開關的主要電參數(兩款產品的BVDSS和芯片尺寸相同)。

圖3 MOSFET的電參數。
單片肖特基二極管在電源管理環境的產品優勢
在一個同步降壓轉換器(圖4)內,集成肖特基二極管的功率MOSFET可以用作下橋臂開關(S2),以提高轉換器的總體性能。

圖4 單相同步整流降壓轉換器拓撲。
事實上,下橋臂體二極管導通損耗(Pdiode,cond)和反向恢複損耗(PQrr)與二極管正向壓降(VF,diode)及其反向恢複電荷(Qrr)密切相關:

如公式(1)和(2)所示,導通損耗隨著開關頻率、轉換器輸入電壓和輸出電流升高而變大。當兩個場效應晶體管都是關斷狀態,電流經過下橋臂本體二極管時被稱為死區時間(dead time),嚴重影響二極管導通損耗:當空載時間較長時,降低體二極管正向壓降有助於導通損耗最小化,提高性能。圖5所示是60W、48V~12V、250kHz同步整流降壓轉換器的性能。

圖5 同步整流降壓轉換器的性能。
現在,觀察隔離功率轉換器環境,當輸出功率和空載時間數值都很大時,理想的二次側同步整流器不僅具有盡可能小的RDSon導通電阻,以降低導通損耗,同時還應優化本體二極管特性(Qrr和VF,diode),以降低二極管損耗(圖1和2),以最大限度降低關斷尖峰電壓。本文在一個500W數字電源內對60V標準功率開關和內置肖特基的功率開關進行比較。數字電源由兩個功率級組成:功率因子校正器和內置同步整流器的LLC諧振電路,最大輸出電流是42A、滿負載開關頻率是80kHz、空載時間1μs。圖6是性能曲線比較。

圖6 同步整流降壓轉換器的性能。
在兩個拓撲內,60V內置肖特基二極管的器件在整個電流範圍內性能表現更好,從而提高了係統總體性能。
在電橋拓撲中改善開關特性
在電橋拓撲內,反向恢複過程從下橋臂開關(圖7中的Q2)續流結束時開始,到上橋臂開關(圖7中的Q1)開始導通時終止,且最終的恢複電流加到上橋臂電流內。連同上橋臂開關上的額外電流,下橋臂反向恢複過程與Vds≈0V到Vdc換向操作,可能會在下橋臂開關閘源電壓上產生雜散跳變電壓,因為下橋臂Ciss(輸入電容)是透過Crss(Miller電容)完成充電過程。

圖7 全橋轉換器原理圖。
結果,在Q2zhajishangganyingdedianyakenenghuichufakaiguan,zhishixitongwenjianxinghexingnengehua。dianqiaoxiaqiaobikaiguanyinggaiyouruanhuanxianggongneng,zailouyuanjizhijianwuweixiandejianfengdianyahegaopinzhenlingxiaoying,xiaqiaobikaiguangaiyongneizhixiaotejidegonglvMOSFET,即可取得所需的開關特性。事實上,其較小的反向恢複電荷(Qrr)直接影響電壓過衝值,因為Qrr值越高,過衝電壓越高。如果Vds過(guo)衝(chong)和(he)振(zhen)鈴(ling)效(xiao)應(ying)參(can)數(shu)值(zhi)較(jiao)低(di),下(xia)橋(qiao)臂(bi)開(kai)關(guan)柵(zha)極(ji)雜(za)散(san)跳(tiao)變(bian)電(dian)壓(ya)將(jiang)會(hui)降(jiang)低(di),從(cong)而(er)將(jiang)擊(ji)穿(chuan)風(feng)險(xian)降(jiang)到(dao)最(zui)低(di)。此(ci)外(wai),因(yin)為(wei)開(kai)關(guan)噪(zao)聲(sheng)降(jiang)低(di),軟(ruan)恢(hui)複(fu)還(hai)能(neng)提(ti)高(gao)EMI總體性能。從標準MOSFET和內置肖特基MOSFET上橋臂導通波形來看,不難發現,集成肖特基二極管MOSFET下橋臂雜散跳變電壓下降明顯。
結論
為很多應用(工業電機和開關電源的同步整流、逆變器、電機驅動)選擇適合的MOSFET時,不僅要考慮RDSon和Qg,還要分析本征體漏二極管的動靜態特性。當需要軟反向恢複和低Qrr時,集成肖特基二極管的60V F7功率MOSFET確保功率開關的性能和換向性能更加出色。此外,在實際應用中,當續流時間或空載時間持續時間長時,肖特基的VF,diode數值可讓應用取得更高性能。
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