有規可循的故障,支招是哪個元器件引起的電路問題
發布時間:2017-03-07 責任編輯:susan
【導讀】電dian器qi設she備bei內nei部bu的de電dian子zi元yuan器qi件jian雖sui然ran數shu量liang很hen多duo,但dan其qi故gu障zhang卻que是shi有you規gui律lv可ke循xun的de。本ben文wen將jiang講jiang解jie在zai遇yu到dao電dian路lu故gu障zhang時shi,如ru何he得de知zhi是shi哪na個ge元yuan器qi件jian引yin起qi的de。

一、電阻損壞的特點
dianzushidianqishebeizhongshuliangzuiduodeyuanjian,danbushisunhuailvzuigaodeyuanjian。dianzusunhuaiyikailuzuichangjian,zuzhibiandajiaoshaojian,zuzhibianxiaoshifenshaojian。changjiandeyoutanmodianzu、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。前兩種電阻應用最廣,其損壞的特點:一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ以上)的損壞率較高,中間阻值(如幾百歐到幾十千歐)的極少損壞;二(er)是(shi)低(di)阻(zu)值(zhi)電(dian)阻(zu)損(sun)壞(huai)時(shi)往(wang)往(wang)是(shi)燒(shao)焦(jiao)發(fa)黑(hei),很(hen)容(rong)易(yi)發(fa)現(xian),而(er)高(gao)阻(zu)值(zhi)電(dian)阻(zu)損(sun)壞(huai)時(shi)很(hen)少(shao)有(you)痕(hen)跡(ji)。線(xian)繞(rao)電(dian)阻(zu)一(yi)般(ban)用(yong)作(zuo)大(da)電(dian)流(liu)限(xian)流(liu),阻(zu)值(zhi)不(bu)大(da)。圓(yuan)柱(zhu)形(xing)線(xian)繞(rao)電(dian)阻(zu)燒(shao)壞(huai)時(shi)有(you)的(de)會(hui)發(fa)黑(hei)或(huo)表(biao)麵(mian)爆(bao)皮(pi)、裂(lie)紋(wen),有(you)的(de)沒(mei)有(you)痕(hen)跡(ji)。水(shui)泥(ni)電(dian)阻(zu)是(shi)線(xian)繞(rao)電(dian)阻(zu)的(de)一(yi)種(zhong),燒(shao)壞(huai)時(shi)可(ke)能(neng)會(hui)斷(duan)裂(lie),否(fou)則(ze)也(ye)沒(mei)有(you)可(ke)見(jian)痕(hen)跡(ji)。保(bao)險(xian)電(dian)阻(zu)燒(shao)壞(huai)時(shi)有(you)的(de)表(biao)麵(mian)會(hui)炸(zha)掉(diao)一(yi)塊(kuai)皮(pi),有(you)的(de)也(ye)沒(mei)有(you)什(shen)麼(me)痕(hen)跡(ji),但(dan)絕(jue)不(bu)會(hui)燒(shao)焦(jiao)發(fa)黑(hei)。根(gen)據(ju)以(yi)上(shang)特(te)點(dian),在(zai)檢(jian)查(zha)電(dian)阻(zu)時(shi)可(ke)有(you)所(suo)側(ce)重(zhong),快(kuai)速(su)找(zhao)出(chu)損(sun)壞(huai)的(de)電(dian)阻(zu)。
二、電解電容損壞的特點
電解電容在電器設備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現:一是完全失去容量或容量變小;二是輕微或嚴重漏電;三是失去容量或容量變小兼有漏電。查找損壞的電解電容方法有:
(1)看:有的電容損壞時會漏液,電容下麵的電路板表麵甚至電容外表都會有一層油漬,這種電容絕對不能再用;有的電容損壞後會鼓起,這種電容也不能繼續使用;
(2)摸:開機後有些漏電嚴重的電解電容會發熱,用手指觸摸時甚至會燙手,這種電容必須更換;
(3)dianjiedianrongneibuyoudianjieye,changshijianhongkaohuishidianjieyebiangan,daozhidianrongliangjianxiao,suoyiyaozhongdianjianzhasanrepianjidagonglvyuanqijianfujindedianrong,liqiyuejin,sunhuaidekenengxingjiuyueda。
三、 二/三極管等半導體器件損壞的特點
二、三極管的損壞一般是PN結擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現:一是熱穩定性變差,表現為開機時正常,工作一段時間後,發生軟擊穿;另一種是PN結的特性變差,用萬用表R×1k測,各PN結均正常,但上機後不能正常工作,如果用R×10或R×1低量程檔測,就會發現其PN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量,較準確的方法是:將萬用表置R×10或R×1檔(一般用R×10檔,不明顯時再用R×1檔)在路測二、三極管的PN結正、反向電阻,如果正向電阻不太大(相對正常值),反向電阻足夠大(相對正向值),表明該PN結正常,反之就值得懷疑,需焊下後再測。這是因為一般電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐以上,用萬用表低阻值檔在路測量,可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。
四、集成電路損壞的特點
集成電路內部結構複雜,功能很多,任何一部分損壞都無法正常工作。集成電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩定性不良。徹底損壞時,可將其拆下,與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、fanxiangdianzu,zongnengzhaodaoqizhongyizhihuojizhiyinjiaozuzhiyichang。duirewendingxingchade,keyizaishebeigongzuoshi,yongwushuijiujinglengquebeihuaiyidejichengdianlu,ruguoguzhangfashengshijiantuichihuobuzaifashengguzhang,jikepanding。tongchangzhinenggenghuanxinjichengdianlulaipaichu。
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