ESD保護時如何維持USB信號完整性
發布時間:2009-12-15
中心議題:
隨(sui)著(zhe)常(chang)見(jian)文(wen)件(jian)的(de)大(da)小(xiao)持(chi)續(xu)增(zeng)加(jia),高(gao)數(shu)據(ju)率(lv)也(ye)變(bian)得(de)越(yue)來(lai)越(yue)重(zhong)要(yao)。在(zai)這(zhe)種(zhong)等(deng)級(ji)的(de)數(shu)據(ju)率(lv),為(wei)數(shu)據(ju)線(xian)路(lu)增(zeng)加(jia)任(ren)何(he)電(dian)容(rong)都(dou)可(ke)能(neng)造(zao)成(cheng)信(xin)號(hao)波(bo)形(xing)失(shi)真(zhen),導(dao)致(zhi)數(shu)字(zi)數(shu)據(ju)傳(chuan)輸(shu)的(de)中(zhong)斷(duan)和(he)/或故障。這就對USB2.0接口上使用的靜電放電(ESD)保護器件提出了更高的要求。ESD保護器件在正常數據傳輸期間必須對信號保持透明狀態,而在係統級ESD兼容性測試或應用現場中遭受實際ESD事件時,必須使受保護對象免受損傷或幹擾。如今,設計人員麵對著需要找到合適的ESD保護解決方案,既能保護敏感線路,又不增加會導致信號質量降低的電容的挑戰。
USB2.0眼圖
可以使用眼圖來評估增加電容對帶寬和信號質量的影響。眼圖提供最低及最高電壓電平以及信號抖動的數字信號。眼圖將能夠暴露出USB數據傳輸完整性方麵的任何問題。
通過在示波器的垂直軸對數字信號進行反複采樣、同時采用相應數據率對水平時間掃描進行觸發來生成眼圖。所獲得的圖形看上去象眼睛,如圖1所示。“眼睛”越大,數據完整性越高。通常采用模板(mask)來對可接受的信號質量進行定義。這模板由“眼睛”中間的六角形和“眼睛”上、下的矩陣組成。如果測得的信號跡線穿越模板的邊線,那麼信號質量就不可接受。USB2.0信號模板規範由USB應用者論壇(USBIF,www.usb.org)提供,可參見USB2.0版規範第7.1.2.2章節。圖1中顯示了帶有詳細臨界點的眼圖。


圖1、USB2.0眼圖
不同電容範圍保護器件的眼圖評估。我們采用480Mbps數據率的USB2.0信號,測量了具有不同電容範圍的三種不同保護器件的眼圖,並將其與USB2.0mobanjinxingbijiao。womenhaipinggulebudaibaohuqijiandedianluban,yongyubijiaohecankao。tongguojiangbutongbaohuqijiandeyantuyumeiyoubaohuqijiandeyantujinxingbijiao,keyizhanxianchuyoubaohuqijiandaozhidexinhaoshuaijianchengdu。xuyaoshuomingdeshi,benwenjinkaolvESD保護二極管的電容量及其對USB2.0高速信號的影響。在實際設計中,線路上的其它元器件或電路板本身也可能會增加電容。

圖2、沒有保護器件所測得的眼圖
圖2顯示的是沒有保護器件時的測試信號。這代表了沒有信號衰減的純粹USB2.0高速信號,因為線路上沒有另外增加電容。
[page]

圖3顯示的是增加了0.5pF電容ESD保護器件(安森美半導體超低電容ESD器件ESD9L5.0ST5G)的USB2.0高速信號眼圖。
這眼圖反映出信號沒有重要變化或區別。這0.5pF電容ESD器件由於電容值是如此之低,對數據信號完整性的負作用可以忽略不
計。這就為設計人員提供了極佳的ESD保護選擇,具有最高的靈活性,將電容預算留給增加其它元件。

圖3、增加ESD9L5.0ST5G0.5pF電容ESD器件所測得的USB2.0高速信號眼圖。
下一項測試采用的是6.0pF電容的ESD保護器件(安森美半導體ESD9C5.0ST5G),見圖4。youyudianrongzengjia,yumeiyouzengjiadianrongdeceshixiangbi,keyicongyantuguanchadaoxinhaozhiliangmingxianxiajiang。zhuyaodexiajiangtixianzaishangshengshijianhexiajiangshijiandezengjia。tu4所suo示shi的de眼yan圖tu看kan上shang去qu可ke以yi接jie受shou,但dan也ye顯xian示shi出chu保bao護hu器qi件jian占zhan用yong了le極ji大da部bu分fen的de電dian容rong預yu算suan。在zai大da多duo數shu設she計ji中zhong,設she計ji中zhong的de其qi它ta元yuan器qi件jian可ke能neng會hui增zeng加jia大da量liang的de電dian容rong,造zao成cheng信xin號hao質zhi量liang進jin一yi步bu下xia降jiang。這zhe6.0pF電容ESD保護器件將需要在最終係統設計中進行測試,以確保它仍然可以接受,並在增加其它元器件的情況下能夠滿足兼容性要求。

圖4、ESD9C5.0ST5G6pF器件,其中箭頭重點說明了采用較高電容器件時開始出現信號質量下降。
最後測試采用65pF電容ESD保護器件(安森美半導體ESD9X5.0ST5G)來進行,見圖5。這眼圖顯示信號質量退化嚴重,上升和下降時間顯示增加。信號跡線穿越USB2.0眼圖模板,顯示這保護器件不能用於USB2.0應用。

ESD9L5.0ST5G的超低電容(0.5pF)為USB2.0高速應用提供了最佳的半導體ESD保護器件設計選擇。
上述眼圖研究顯示ESD9L5.0ST5G對邏輯電平的影響極低,並且不會使上升時間和下降時間出現失真。除了對數據信號傳輸沒有幹擾,這器件還擁有高於8kV的ESD額定電平,為設計人員提供極佳的ESD保護器件選擇,不僅能夠提供所需的ESD保護,同時還維持信號完整性。
- ESD保護時如何維持USB信號完整性
- ESD保護二極管的電容量及其對USB2.0高速信號的影響
- 其它元器件可能會增加大量的電容,造成信號質量進一步下降
- 合適的ESD方案能保護敏感線路,又不增加會導致信號質量降低的電容的挑戰
隨(sui)著(zhe)常(chang)見(jian)文(wen)件(jian)的(de)大(da)小(xiao)持(chi)續(xu)增(zeng)加(jia),高(gao)數(shu)據(ju)率(lv)也(ye)變(bian)得(de)越(yue)來(lai)越(yue)重(zhong)要(yao)。在(zai)這(zhe)種(zhong)等(deng)級(ji)的(de)數(shu)據(ju)率(lv),為(wei)數(shu)據(ju)線(xian)路(lu)增(zeng)加(jia)任(ren)何(he)電(dian)容(rong)都(dou)可(ke)能(neng)造(zao)成(cheng)信(xin)號(hao)波(bo)形(xing)失(shi)真(zhen),導(dao)致(zhi)數(shu)字(zi)數(shu)據(ju)傳(chuan)輸(shu)的(de)中(zhong)斷(duan)和(he)/或故障。這就對USB2.0接口上使用的靜電放電(ESD)保護器件提出了更高的要求。ESD保護器件在正常數據傳輸期間必須對信號保持透明狀態,而在係統級ESD兼容性測試或應用現場中遭受實際ESD事件時,必須使受保護對象免受損傷或幹擾。如今,設計人員麵對著需要找到合適的ESD保護解決方案,既能保護敏感線路,又不增加會導致信號質量降低的電容的挑戰。
USB2.0眼圖
可以使用眼圖來評估增加電容對帶寬和信號質量的影響。眼圖提供最低及最高電壓電平以及信號抖動的數字信號。眼圖將能夠暴露出USB數據傳輸完整性方麵的任何問題。
通過在示波器的垂直軸對數字信號進行反複采樣、同時采用相應數據率對水平時間掃描進行觸發來生成眼圖。所獲得的圖形看上去象眼睛,如圖1所示。“眼睛”越大,數據完整性越高。通常采用模板(mask)來對可接受的信號質量進行定義。這模板由“眼睛”中間的六角形和“眼睛”上、下的矩陣組成。如果測得的信號跡線穿越模板的邊線,那麼信號質量就不可接受。USB2.0信號模板規範由USB應用者論壇(USBIF,www.usb.org)提供,可參見USB2.0版規範第7.1.2.2章節。圖1中顯示了帶有詳細臨界點的眼圖。


圖1、USB2.0眼圖
不同電容範圍保護器件的眼圖評估。我們采用480Mbps數據率的USB2.0信號,測量了具有不同電容範圍的三種不同保護器件的眼圖,並將其與USB2.0mobanjinxingbijiao。womenhaipinggulebudaibaohuqijiandedianluban,yongyubijiaohecankao。tongguojiangbutongbaohuqijiandeyantuyumeiyoubaohuqijiandeyantujinxingbijiao,keyizhanxianchuyoubaohuqijiandaozhidexinhaoshuaijianchengdu。xuyaoshuomingdeshi,benwenjinkaolvESD保護二極管的電容量及其對USB2.0高速信號的影響。在實際設計中,線路上的其它元器件或電路板本身也可能會增加電容。

圖2、沒有保護器件所測得的眼圖
圖2顯示的是沒有保護器件時的測試信號。這代表了沒有信號衰減的純粹USB2.0高速信號,因為線路上沒有另外增加電容。
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圖3顯示的是增加了0.5pF電容ESD保護器件(安森美半導體超低電容ESD器件ESD9L5.0ST5G)的USB2.0高速信號眼圖。
這眼圖反映出信號沒有重要變化或區別。這0.5pF電容ESD器件由於電容值是如此之低,對數據信號完整性的負作用可以忽略不
計。這就為設計人員提供了極佳的ESD保護選擇,具有最高的靈活性,將電容預算留給增加其它元件。

圖3、增加ESD9L5.0ST5G0.5pF電容ESD器件所測得的USB2.0高速信號眼圖。
下一項測試采用的是6.0pF電容的ESD保護器件(安森美半導體ESD9C5.0ST5G),見圖4。youyudianrongzengjia,yumeiyouzengjiadianrongdeceshixiangbi,keyicongyantuguanchadaoxinhaozhiliangmingxianxiajiang。zhuyaodexiajiangtixianzaishangshengshijianhexiajiangshijiandezengjia。tu4所suo示shi的de眼yan圖tu看kan上shang去qu可ke以yi接jie受shou,但dan也ye顯xian示shi出chu保bao護hu器qi件jian占zhan用yong了le極ji大da部bu分fen的de電dian容rong預yu算suan。在zai大da多duo數shu設she計ji中zhong,設she計ji中zhong的de其qi它ta元yuan器qi件jian可ke能neng會hui增zeng加jia大da量liang的de電dian容rong,造zao成cheng信xin號hao質zhi量liang進jin一yi步bu下xia降jiang。這zhe6.0pF電容ESD保護器件將需要在最終係統設計中進行測試,以確保它仍然可以接受,並在增加其它元器件的情況下能夠滿足兼容性要求。

圖4、ESD9C5.0ST5G6pF器件,其中箭頭重點說明了采用較高電容器件時開始出現信號質量下降。
最後測試采用65pF電容ESD保護器件(安森美半導體ESD9X5.0ST5G)來進行,見圖5。這眼圖顯示信號質量退化嚴重,上升和下降時間顯示增加。信號跡線穿越USB2.0眼圖模板,顯示這保護器件不能用於USB2.0應用。

ESD9L5.0ST5G的超低電容(0.5pF)為USB2.0高速應用提供了最佳的半導體ESD保護器件設計選擇。
上述眼圖研究顯示ESD9L5.0ST5G對邏輯電平的影響極低,並且不會使上升時間和下降時間出現失真。除了對數據信號傳輸沒有幹擾,這器件還擁有高於8kV的ESD額定電平,為設計人員提供極佳的ESD保護器件選擇,不僅能夠提供所需的ESD保護,同時還維持信號完整性。
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