第15講:高壓SiC模塊封裝技術
發布時間:2025-02-14 責任編輯:lina
【導讀】SiC芯片可以高溫工作,與之對應的連接材料和封裝材料都需要相應的變更。三菱電機高壓SiC模塊支持175℃工作結溫,其封裝技術相對傳統IGBT模塊封裝技術做了很大改進,本文帶你詳細了解內部的封裝技術。
SiC芯片可以高溫工作,與之對應的連接材料和封裝材料都需要相應的變更。三菱電機高壓SiC模塊支持175℃工作結溫,其封裝技術相對傳統IGBT模塊封裝技術做了很大改進,本文帶你詳細了解內部的封裝技術。
為了實現低碳社會,能夠高效電能變換的電力電子技術正在擴展到消費、工業、電氣化鐵路、汽車、太tai陽yang能neng發fa電dian和he風feng力li發fa電dian等deng各ge個ge領ling域yu。其qi中zhong,功gong率lv模mo塊kuai在zai控kong製zhi電dian流liu方fang麵mian發fa揮hui著zhe重zhong要yao作zuo用yong,需xu要yao減jian少shao運yun行xing過guo程cheng中zhong的de損sun耗hao,減jian小xiao封feng裝zhuang尺chi寸cun,並bing提ti高gao功gong率lv密mi度du。近jin年nian來lai備bei受shou關guan注zhu的deSiC(碳化矽)與以往的Si(矽)相比具有高速開關且低損耗的特點,能夠飛躍性地提高性能,因此被期待為下一代的功率器件。此外,由於SiC能夠高溫工作,因此可以通過減小封裝尺寸來促進功率單元的小型化,但為此,需要開發能夠應對高溫工作的封裝材料和結構。
在(zai)封(feng)裝(zhuang)開(kai)發(fa)過(guo)程(cheng)中(zhong),我(wo)們(men)提(ti)高(gao)了(le)鍵(jian)合(he)材(cai)料(liao)和(he)灌(guan)封(feng)材(cai)料(liao)等(deng)各(ge)部(bu)件(jian)的(de)耐(nai)熱(re)性(xing),並(bing)開(kai)發(fa)了(le)對(dui)應(ying)的(de)工(gong)藝(yi)技(ji)術(shu),特(te)別(bie)是(shi)提(ti)高(gao)了(le)對(dui)溫(wen)度(du)循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)有(you)影(ying)響(xiang)的(de)鍵(jian)合(he)部(bu)位(wei)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing),實(shi)現(xian)了(le)高(gao)質(zhi)量(liang)和(he)高(gao)可(ke)靠(kao)性(xing)。通(tong)過(guo)應(ying)用(yong)這(zhe)些(xie)技(ji)術(shu),我(wo)們(men)開(kai)發(fa)了(le)一(yi)種(zhong)支(zhi)持(chi)芯(xin)片(pian)工(gong)作(zuo)溫(wen)度(du)(Tjop)175℃高溫運行的封裝。
圖1顯示了開發的高溫工作全SiC功率模塊(FMF185/375/750DC-66A)的封裝外觀,圖2顯示了主要結構(示意圖)。作為支持175℃高溫運行的封裝結構,在底板上使用耐高溫焊錫來連接耐高溫絕緣基板,在絕緣基板上使用Ag燒結技術鍵合芯片。芯片上麵的電極和絕緣基板金屬層用Al線連接,與外部電氣連接的電極與絕緣基板金屬層進行US鍵合。外殼安裝在底板上,內部填充了耐高溫灌封材料。

圖1:適用於高溫工作的封裝外觀

圖2:高溫運行封裝截麵圖
當考慮芯片的高溫運行時,由於傳統焊料在芯片鍵合時的物理限製,因此需要新的鍵合材料和合適的工藝。本公司開發了使用Ag粒子燒結鍵合工藝,實現了耐高溫、高品質化。
Ag燒結連接工藝進行多個芯片的批量鍵合。因此,在高溫工作封裝中,相對於以往封裝,芯片尺寸縮小,研究了在4×3的芯片排列中高密度化統一鍵合。圖3顯示了通過Ag燒結進行批量鍵合後的SAT(Scanning Acoustic Tomography)圖像,圖4顯示了鍵合截麵圖像。從SAT圖像和截麵圖像的結果來看,鍵合處沒有空隙或龜裂等,可以確認鍵合狀態良好。因此,在高溫工作封裝中,通過Ag燒結實現了芯片的高密度化和高質量的鍵合。

圖3:Ag燒結批量鍵合後的SAT圖像

圖4:Ag燒結後的橫截麵圖像
過去一直使用AlN(氮化鋁)陶瓷的絕緣基板,此次研究了采用Si3N4(氮化矽)陶瓷的耐高溫絕緣基板作為新材料。為了評價耐高溫性能,對AlN絕緣基板和Si3N4絕緣基板實施溫度循環試驗,使溫度變化為-40~175℃(ΔT=215K),對陶瓷部分和基板金屬層的鍵合部裂紋變化進行檢測、確認。結果,如圖5所示,AlN絕緣基板的陶瓷部分出現龜裂,而Si3N4絕緣基板在600個循環後也未發生龜裂,實現了耐高溫、高可靠性。

圖5(a):溫度循環測試後的絕緣基板截麵圖-AlN基板

圖5(b):溫度循環測試後的絕緣基板截麵圖-Si3N4基板
連接絕緣基板和底板的焊料必須保持鍵合處無裂紋,以保證對基板的散熱,防止芯片過熱。因此,我們研究選擇了耐久性、耐熱性的RoHS焊錫材料。對於耐高溫焊料,在表1所示的混合元素基礎上添加了多種元素,以提高鍵合壽命,使其符合絕緣基板和底板的機械物理性能。使用選定的焊料,將Si3N4絕緣基板和底板連接起來,並進行了溫度循環試驗,其中溫度變化為-40~175℃(ΔT=215K)。結果,即使在600次循環後,也沒有觀察到鍵合處出現裂紋,並驗證了它可以作為耐高溫焊料使用(圖6)。

表1:耐高溫焊錫材料的主要混合元素和效果

圖6:溫度循環測試後的焊接層截麵圖
chuantongyongyudianqilianjiedaowaibudedianjishishiyonghanliaojianhedaojueyuanjibanjinshuceng。raner,suizhegonglvmidudezengjia,youyudianjidianzuchengfenyinqidefarehedianjiyujibanjinshudejianhebufenwendushangshengchengweiwenti,yincixuyaotigaogaowenxunhuanxiadejianheshouming。yinci,womenliyongUS(超聲波)焊接技術將電極與基板金屬直接鍵合在一起,並通過去除焊料提高了鍵合強度,從而在高溫循環中提高了電極與絕緣基板的鍵合壽命。
為了實現功率模塊的更高工作溫度,我們不斷開發器件封裝技術。表2顯示了從傳統封裝到高溫運行封裝的技術。除了引進Ag燒結鍵合、耐高溫絕緣基板、耐高溫焊錫材料、電極US鍵合相關技術外,為支持高溫運行功率模塊的商業化,創新的封裝設計、材料及製造工藝的開發是至關重要的。

表2:傳統封裝與高溫運行封裝的區別
今jin後hou,本ben公gong司si將jiang以yi多duo年nian積ji累lei的de功gong率lv模mo塊kuai封feng裝zhuang技ji術shu及ji量liang產chan技ji術shu為wei基ji礎chu,加jia速su開kai發fa新xin一yi代dai高gao溫wen運yun行xing且qie高gao品pin質zhi的de功gong率lv模mo塊kuai,同tong時shi繼ji續xu推tui進jin商shang業ye化hua,為wei實shi現xian環huan保bao及ji節jie能neng社she會hui做zuo出chu貢gong獻xian。
文章來源:三菱電機半導體
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